Das Rasterelektronenmikroskop erweist sich als vielseitiges Gerät für die morphologische und analytische Untersuchung von Oberflächen. Lernen Sie die Leistungsfähigkeit und die Einsatzmöglichkeiten der modernen Rasterelektronenmikroskopie (REM) bei der Abbildung von Oberflächen und in der Mikrobereichsanalyse kennen.

Inhalt des Seminars:
> Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie
> Aufbau eines Rasterelektronenmikroskops
> Signale und Kontraste
> Mikroskopiertechnik
> Vergleich verschiedener Kathodensysteme
> Präparation
> Kathodolumineszenz
> alternative Rastermethoden
> Röntgenmikroanalyse im Rasterelektronenmikroskop
> Beschichtung nichtleitender Proben
> Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie
> Abbildung von Oberflächen und Vermeidung von Abbildungsartefakten
> Beurteilung von Schäden an metallischen und nichtmetallischen Werkstoffen: Beurteilung von Bruchflächen bei Metall-, Polymer- und Keramikwerkstoffen

Referenten:
Dr. W. Bröcker
DFG Deutsche Forschungsgemeinschaft, Bonn
Dr.-Ing. M. J. Heneka
RJLMicro&Analytic, Gesellschaft für angewandte, Elektronenmikroskopie und Analytik mbH, Karlsdorf
Dr. M. Procop
IFG-Institute for Scientific Instruments, Berlin
Priv.-Doz. Dr. P. F. Schmidt
Westfälische Wilhelms-Universität Münster
M. Zgraggen
Institut für Werkstofftechnologie AG, WALLISELLEN (Schweiz)

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