Hochfrequenz- und Mikrowellenmesstechnik, Teil B

mit zahlreichen praktischen Messvorführungen

In Zusammenarbeit mit dem VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)

Auf einen Blick

3 Tages-Seminar
27.06.2018 - 29.06.2018
8:30 Uhr
in Ostfildern

Technische Akademie Esslingen
An der Akademie 5
73760 Ostfildern

EUR 1.330,00(MwSt.-frei)

bis zu 50% Zuschuss möglich!

Veranstaltung Nr. 32844.00.017


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Referenten:
Dr. R. Bitzer
Narda Safety Test Solutions GmbH, Pfullingen
Dipl.-Ing. M. Königsmann
Keysight Technologies Deutschland GmbH, Böblingen
Dipl. -Ing. H. Nagel
Keysight Technologies Deutschland GmbH, Oberhaching
Prof. Dipl.-Ing. P. Pauli
Universität der Bundeswehr München, Neubiberg

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Beschreibung

Die moderne Hochfrequenz- und Mikrowellenmesstechnik berührt in erster Linie nachrichten-, radar- und elektrotechnische Fragen. Sie liefert aber auch wichtige Beiträge für die Materialprüfung und für Fehlerortungsverfahren auf Leitungen (DTF mit TDR und FDR). Neuerdings steht sie auch im Vordergrund bei umweltrelevanten EMV- und EMVU-Messungen.

Ziel des Seminars

Neben diesen ganz speziellen Messproblemen der Mikrowellentechnik werden in diesem Seminar zusätzliche Informationen über Schirmung elektromagnetischer Wellen und ihre Messung gegeben. Signalgeneratoren und ihre Spezifikationen sowie Fragen der Messplatzausstattung bis zu den Details über die vielfältigen und unentbehrlichen Hilfsmittel für reproduzierbare MIL-Standard, CECC- und IEC-Messungen werden behandelt. Der Einsatz von CAD-Verfahren bei der Entwicklung von Komponenten und Schaltungen im MHz- und GHz-Bereich wird anschaulich erläutert.

Viele Experimentalvorführungen, zum Teil an rechnergesteuerten Messplätzen, veranschaulichen den aktuellen Stand der Hochfrequenz- und Mikrowellenmesstechnik.

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen
ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Teilnehmerkreis

Dieses Seminar richtet sich an Ingenieure, Messtechniker, Konstrukteure aus Industrie und Forschung, Ausbilder und Dozenten von Hochschulen sowie an alle anderen Anwender der HF- und Mikrowellenmesstechnik.

Seminarthemen im Überblick

Mittwoch, 27. Juni 2018
8.30 bis 12.00 und 13.00 bis 17.30 Uhr

1. Einführung in besondere Probleme der HF- und Mikrowellenmesstechnik (P. Pauli)
> Verhalten von Bauelementen und Leitungen bei hohen und höchsten Frequenzen
> Skin-Effekt, anschaulich erläutert
> Wellenanregung und -ausbreitung
> TEM-Wellen und TE/TM-Moden auf Leitungen
> Moding
> Vergleich und Einsatzfelder der Leitungstypen: Koaxial-, Streifen-, Fin- und Hohlleiter
> Image-Line
> dielektrische Wellenleiter
> kritische Frequenz bei Koaxial- und Hohlleitern
> Messprobleme bei GHz-Frequenzen

2. Aufbau und Anwendungen von Signalgeneratoren bei höheren Frequenzen (M. Königsmann)
> Welche Anforderungen stellt man an einen Signalgenerator?
> Blockschaltbilder und Konzepte: LC-Oszillator, varaktorabgestimmter-Oszillator, YIG-Oszillator und Synthesizer
> Frequenz-Stabilitätskriterien bei Sinussignalen
> Verzerrungsfreiheit der Ausgangssignale
> Modulationsforderungen
> Pegel-Einstellung
> Anwendung von modernen Signalgeneratoren

3. Schirmungsprobleme bei HF-Messungen (P. Pauli)
> Mechanismen für die Abschirmung elektrischer und magnetischer Felder und elektromagnetischer Wellen bei tiefen und hohen Frequenzen
> Erläuterung und Ausnutzung des Skin-Effekts zur Abschirmung magnetischer Felder
> kristalline und amorphe magnetische Schirmwerkstoffe
> geschirmte HF-Messkabinen
> Ermittlung der Schirmdämpfung
> Absorbereinsatz für reflexionsfreie Räume für HF- und Mikrowellenmessungen
> GTEM-Zellen für breitbandige EMV-Messungen

Donnerstag, 28. Juni 2018
8.30 bis 12.00 und 13.00 bis 17.30 Uhr

4. Hilfsmittel für HF- und Mikrowellenmessungen – Components (P. Pauli)
> stoßfreie mikrowellentaugliche Verbindungen, Übergänge, Drehkupplungen und Steckersysteme
> Power-Splitter und Power-Divider
> BIAS-T
> 50-Ohm- auf 75-Ohm-Anpassungsglieder
> Dämpfungsglieder und Referenzabschlüsse
> Eichnormale und andere Standards
> PIN-Modulatoren
> Zirkulatoren
> Richtungsleitungen
> Überspannungsschutzbauteile (EMP-Ableiter, Limiter) und ihre Anwendung in der HF- und Mikrowellenmesstechnik

5. PC-gestützte Entwicklung von HF-Komponenten und Schaltungen (H. Nagel)
> Hinweise auf Normen und Bauvorschriften für HF- und Mikrowellenkomponenten
> Anwendung von Software bei der HF-Schaltungs-Entwicklung, z.B. für ein HF-Empfänger-Design, für ein HF-Verstärker-Layout und die dazugehörigen Signalanalysen
> Demonstration von CAD-Tools zur Entwicklung von weiteren HF-Komponenten

6. Baustoff- und Materialprüfung mit Mikrowellen (P. Pauli)
> Messaufbauten zur Ermittlung der Abschirmwirkung, Reflexion und Transmission von Schirmmaterialien
> Beispiele für vermessene Materialproben: Stahlbeton, Ziegel- und Holzwände, Putz, Glas, Dämmstoffe, Gewebe, Folien
> Einsatzmöglichkeiten verschiedener Materialkombinationen, speziell im D-Netz, E-Netz und UMTS-Frequenzbereich
> Vorteile und Grenzen verschiedener Messverfahren

Freitag, 29. Juni 2018
8.30 bis 12.00 und 12.45 bis 14.00 Uhr

7. EMVU-Messungen im MHz- und GHz-Bereich (H. Schwarz)
> Breitband-Strahlungsmessgeräte und Monitore
> Sensortechnologie
> Detektionsverfahren und Frequenzgangbewertung
> frequenzselektive Messgeräte
> Anforderungen an EMVU-Messgeräte
> Durchführung von EMVU-Messungen

8. Fehlerortungsverfahren: Time Domain Reflectometry (TDR) und Frequency Domain Reflectometry (FDR) (P. Pauli)
> Leitungseigenschaften für Ausbreitung von Puls- und Sprungfunktionen
> Frequenzspektrum von Einschaltvorgängen
> Einfluss der Ausbreitungskonstante
> Aufbau und Funktion eines Pulsreflektometers
> Anwendungen zur Fehlerortung und Fehleranalyse
> Messgenauigkeit
> Demonstration der TDR
> Ermittlung des Fehlerortes auf Leitungen (distance-to-fault) mit Hilfe der schnellen Fourier-Transformation (FFT)
> Demonstration und Messbeispiele mit dem Site Master™ und FSH3
> Gegenüberstellung TDR/FDR

Referenten

Leitung:
Prof. Dipl.-Ing. P. Pauli

Referenten:
Dr. Rainer Bitzer
Narda Safety Test Solutions GmbH, Pfullingen,
Dipl.-Ing. Michael Königsmann
Keysight Technologies Deutschland GmbH, Böblingen,
Dipl. -Ing. Hendrik Nagel
Keysight Technologies Deutschland GmbH, Oberhaching,
Prof. Dipl.-Ing. Peter Pauli
Universität der Bundeswehr München, Neubiberg,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer EUR 1.330,00(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Fördermöglichkeiten
Für dieses Seminar stehen Ihnen verschiedene Fördermöglichkeiten zur Verfügung.
Weitere Informationen

Die nächsten Termine

Datum / Uhrzeit Seminartitel Ort Preis
27.06.2018, 8:30 Uhr Hochfrequenz- und Mikrowellenmesstechnik, Teil B Ostfildern$$ortdetail$$ EUR 1.330,00
24.06.2019, 8:30 Uhr Hochfrequenz- und Mikrowellenmesstechnik, Teil B Ostfildern$$ortdetail$$ EUR 1.330,00

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