Systemzuverlässigkeit in der Elektronik (FMEDA)

FMEDA Methodik

In Zusammenarbeit mit dem VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)

Auf einen Blick

2 Tages-Seminar
neuer Termin in Planung
in Wien
Veranstaltung Nr. 34642.00.003


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Beschreibung

Das Ausfallverhalten komplexer elektronischer Systeme ist vor allem in der Sicherheitstechnik von großer Bedeutung. Fehleinschätzungen können hier schwerwiegende Konsequenzen haben und zu hohen Kosten führen. Daher fordern die einschlägigen Normen zur funktionalen Sicherheit die Berechnung der Versagenswahrscheinlichkeit von Schutzeinrichtungen.

Ziel des Seminars

Das Seminar vermittelt grundlegendes Wissen rund um die Themen „Lebensdauer und Zuverlässigkeit“. Die Teilnehmer lernen das Ausfallverhalten von elektronischen Komponenten kennen und werden mit den wichtigsten Begriffen aus dieser Disziplin vertraut gemacht. Hierbei wird ausgehend von den Grundlagen der Zuverlässigkeitstechnik auf die Durchführung der FMEDA nach EN 61508 hingearbeitet (bitte nicht die FMEDA mit der FMEA verwechseln). Methoden zur Bestimmung von Ausfallraten werden vorgestellt und anhand von Beispielen demonstriert.

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert. DQS-Zertifizierung

Teilnehmerkreis

> Mitarbeiter und Leiter aus Geräteentwicklung und Qualitätssicherung
> Produktmanager und Marketingverantwortliche von elektronischen Geräten
> Personen, die sicherheitstechnische Einrichtungen planen und bewerten

Das Seminar ist vom VDSI Verband Deutscher Sicherheitsingenieure e.V. als geeignet für die Weiterbildung von Sicherheitsfachkräften nach § 5 (3) ASiG eingestuft worden, und die Teilnehmer erhalten auf der qualifizierten Teilnahmebescheinigung 1 VDSI-Punkt Arbeitsschutz.

Seminarthemen im Überblick

Stand der letzten Durchführung:

Mittwoch, 28. und Donnerstag, 29. September 2016
9.00 bis 12.15 und 13.45 bis 17.00 Uhr

Begriffe

Mathematische Grundlagen
> Wahrscheinlichkeitsrechnung
> Verteilungsfunktionen
> Erwartungswert von Zufallsgrößen
> Verknüpfung von Zufallsgrößen
> anschauliche Interpretation
> häufige Fehler

Zuverlässigkeit von Geräten
> Versagenswahrscheinlichkeit elektronischer und mechanischer Komponenten
> Datenquellen für Bauteil-Ausfallraten
> messtechnische Ermittlung von Ausfallraten
> zeitverkürzte Tests
> Einsatzbedingungen, Umgebungseinflüsse
> Parts Count Parts Stress Methode
> Gebrauchsdauer
> Bewertungskriterien/Sicherheitsfunktion
> Fehlererkennung durch Diagnose
> Fehlerbeherrschung durch Fail Safe Verhalten
> Bestimmung von Ausfallraten mittels FMEDA
> Berechnung des Anteils sicherer Fehler (SFF)
> Ermittlung der SIL-Eignung

Systemzuverlässigkeit
> Einkanalige Systeme
> Mehrkanalige Systeme
> Fehlerbeherrschung durch Redundanz
> Auswahlschaltung (MooN-Systeme)
> Fehlertoleranz der Hardware (HFT)
> PFD/PFH-Berechnung
> Zuverlässigkeitsblockdiagramme
> Fehlerbäume
> Markovmodelle

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.
Beim gemeinsamen Mittagessen findet ein reger Austausch mit den Referenten statt. Jeder Teilnehmer erhält zu Beginn des Seminars eine Mappe mit ausführlichen Seminarunterlagen.

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