Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

Absicherung der Zuverlässigkeit

In Zusammenarbeit mit dem VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)

Auf einen Blick

2 Tages-Seminar
06.03.2018 - 07.03.2018
8:45 Uhr
in Ostfildern

Technische Akademie Esslingen
An der Akademie 5
73760 Ostfildern

Preis: 1.060 EUR(MwSt.-frei)

bis zu 50% Zuschuss möglich!

Veranstaltung Nr. 32592.00.013


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Referent:
L. R. Stoll
TECS Prüftechnik, Furtwangen

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Beschreibung

Der Einsatz neuer Technologien sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozesssicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und die Einführung neuer Testverfahren. In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und die Qualität steigern will.

Ziel des Seminars

Das Seminar vermittelt den Teilnehmern das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit ihren Vor- und Nachteilen, die Erarbeitung von optimalen Teststrategien sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld.

Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitätssteigerung. Die optimale Teststrategie zu ermitteln ist Teamarbeit von Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitätssicherung.

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen
ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Teilnehmerkreis

Dieses Seminar richtet sich an Ingenieure, Techniker, Elektroniker und Prozessverantwortliche aus den Unternehmensbereichen Entwicklung, Fertigung, Prüffeld, Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen und elektronischen Geräten.

Seminarthemen im Überblick

Dienstag, 6. und Mittwoch, 7. März 2018
8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr

> Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
> Automatische Inspektion (AOI, AXI)
> In-Circuit-Testverfahren
> Funktionstestverfahren
> Selbsttest (BIST)
> Emulationsverfahren
> Simulation
> Boundary Scan
> Realisierungen bei Testsystemen
> Vergleich der Testverfahren bezüglich Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
> Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
> CAD-Link für Testsysteme
> Computerunterstützte Reparatur
> Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
> Adaptierungsmöglichkeiten
> Optimierung von Teststrategien

Referenten

Lothar R. Stoll
TECS Prüftechnik, Furtwangen. Lothar Stoll ist seit über 30 Jahren im Bereich des automatischen Testens tätig. Davor arbeitete er viele Jahre in der Elektronik-Entwicklung.,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer 1.060 EUR(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Fördermöglichkeiten
Für dieses Seminar stehen Ihnen verschiedene Fördermöglichkeiten zur Verfügung.
Weitere Informationen

Die nächsten Termine

Datum / Uhrzeit Seminartitel Ort Preis
06.03.2018, 8:45 Uhr Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik Ostfildern$$ortdetail$$ 1.060 EUR

© Technische Akademie Esslingen e.V., An der Akademie 5, 73760 Ostfildern  | Impressum