Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik
Absicherung der Zuverlässigkeit
In Zusammenarbeit mit dem VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)
Auf einen Blick
2 Tages-Seminar
neuer Termin in Planung
in Ostfildern
Technische Akademie Esslingen
An der Akademie 5
73760 Ostfildern
Veranstaltung Nr. 32592.00.013
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Beschreibung
Der Einsatz neuer Technologien sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozesssicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und die Einführung neuer Testverfahren. In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und die Qualität steigern will.
Ziel des Seminars
Das Seminar vermittelt den Teilnehmern das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit ihren Vor- und Nachteilen, die Erarbeitung von optimalen Teststrategien sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld.
Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitätssteigerung. Die optimale Teststrategie zu ermitteln ist Teamarbeit von Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitätssicherung.
Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert. |
Teilnehmerkreis
Dieses Seminar richtet sich an Ingenieure, Techniker, Elektroniker und Prozessverantwortliche aus den Unternehmensbereichen Entwicklung, Fertigung, Prüffeld, Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen und elektronischen Geräten.
Seminarthemen im Überblick
Stand der letzten Durchführung:
Dienstag, 6. und Mittwoch, 7. März 2018
8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr
> Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
> Automatische Inspektion (AOI, AXI)
> In-Circuit-Testverfahren
> Funktionstestverfahren
> Selbsttest (BIST)
> Emulationsverfahren
> Simulation
> Boundary Scan
> Realisierungen bei Testsystemen
> Vergleich der Testverfahren bezüglich Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
> Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
> CAD-Link für Testsysteme
> Computerunterstützte Reparatur
> Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
> Adaptierungsmöglichkeiten
> Optimierung von Teststrategien
Termine & Preise
Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.
Die nächsten Termine
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