Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik
Absicherung der Zuverlässigkeit
In Zusammenarbeit mit dem VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)
Auf einen Blick
2 Tages-Seminar
location_on Präsenz
06.10.2021 - 07.10.2021
8:45 Uhr
in Ostfildern bei Stuttgart
Technische Akademie Esslingen
An der Akademie 5
73760 Ostfildern
EUR 1.160,00(MwSt.-frei)
weniger bezahlen – so geht´s
Veranstaltung Nr. 32592.00.019
Referent: L. R. Stoll TECS Prüftechnik, Furtwangen |
Teilnehmer dieser Veranstaltung interessierten sich auch für
Beschreibung
> Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
> Automatische Inspektion (AOI, AXI)
> In-Circuit-Testverfahren
> Funktionstestverfahren
> Selbsttest (BIST)
> Emulationsverfahren
> Simulation
> Boundary Scan
> Realisierungen bei Testsystemen
> Vergleich der Testverfahren bezüglich Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
> Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
> CAD-Link für Testsystem
> Computerunterstützte Reparatur
> Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
> Stressmethoden (Burn-In und Run-In)
> Verfahren zur Ermittlung der Fehlerabdeckung
> Adaptierungsmöglichkeiten
> Optimierung von Teststrategien
Ziel der Weiterbildung
Das Seminar vermittelt den Teilnehmern das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit ihren Vor- und Nachteilen. Es zeigt die Erarbeitung von optimalen Teststrategien, Möglichkeiten der Fehlerabdeckung sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld auf.
Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert. |
Teilnehmerkreis
Das Seminar richtet sich an Ingenieure, Techniker, Elektroniker und Prozessverantwortliche aus den Unternehmensbereichen Entwicklung, Fertigung, Prüffeld, Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen und elektronischen Geräten.
Seminarthemen im Überblick
Stand der letzten Durchführung:
Mittwoch, 11. und Donnerstag, 12. März 2020
8:45 bis 12:00 und 13:30 bis 16:45 Uhr
> Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
> Automatische Inspektion (AOI, AXI)
> In-Circuit-Testverfahren
> Funktionstestverfahren
> Selbsttest (BIST)
> Emulationsverfahren
> Simulation
> Boundary Scan
> Realisierungen bei Testsystemen
> Vergleich der Testverfahren bezüglich Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
> Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
> CAD-Link für Testsystem
> Computerunterstützte Reparatur
> Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
> Stressmethoden (Burn-In und Run-In)
> Verfahren zur Ermittlung der Fehlerabdeckung
> Adaptierungsmöglichkeiten
> Optimierung von Teststrategien
Referenten
Lothar R. Stoll
TECS Prüftechnik, Furtwangen. Lothar Stoll ist seit über 30 Jahren im Bereich des automatischen Testens tätig. Davor arbeitete er viele Jahre in der Elektronik-Entwicklung.,
Termine & Preise
Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.
Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer EUR 1.160,00(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.
Fördermöglichkeiten
weniger bezahlen – so geht´s
Die nächsten Termine
Datum / Uhrzeit | Seminartitel | Ort | Preis | |
---|---|---|---|---|
06.10.2021, 8:45 Uhr | Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik | Ostfildern$$ortdetail$$ | EUR 1.160,00 | |
16.03.2022, 8:45 Uhr | Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik | Ostfildern$$ortdetail$$ | EUR 1.160,00 |