Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

Beschreibung

> Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
> Automatische Inspektion (AOI, AXI)
> In-Circuit-Testverfahren
> Funktionstestverfahren
> Selbsttest (BIST)
> Emulationsverfahren
> Simulation
> Boundary Scan
> Realisierungen bei Testsystemen
> Vergleich der Testverfahren bezüglich Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
> Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
> CAD-Link für Testsystem
> Computerunterstützte Reparatur
> Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
> Stressmethoden (Burn-In und Run-In)
> Verfahren zur Ermittlung der Fehlerabdeckung
> Adaptierungsmöglichkeiten
> Optimierung von Teststrategien

Ziel der Weiterbildung

Das Seminar vermittelt den Teilnehmern das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit ihren Vor- und Nachteilen. Es zeigt die Erarbeitung von optimalen Teststrategien, Möglichkeiten der Fehlerabdeckung sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld auf.

Teilnehmerkreis

Das Seminar richtet sich an Ingenieure, Techniker, Elektroniker und Prozessverantwortliche aus den Unternehmensbereichen Entwicklung, Fertigung, Prüffeld, Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen und elektronischen Geräten.

Seminarthemen im Überblick

Stand der letzten Durchführung:

Mittwoch, 11. und Donnerstag, 12. März 2020
8:45 bis 12:00 und 13:30 bis 16:45 Uhr

> Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
> Automatische Inspektion (AOI, AXI)
> In-Circuit-Testverfahren
> Funktionstestverfahren
> Selbsttest (BIST)
> Emulationsverfahren
> Simulation
> Boundary Scan
> Realisierungen bei Testsystemen
> Vergleich der Testverfahren bezüglich Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
> Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
> CAD-Link für Testsystem
> Computerunterstützte Reparatur
> Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
> Stressmethoden (Burn-In und Run-In)
> Verfahren zur Ermittlung der Fehlerabdeckung
> Adaptierungsmöglichkeiten
> Optimierung von Teststrategien

Referenten

Lothar R. Stoll
TECS Prüftechnik, Furtwangen. Lothar Stoll ist seit über 30 Jahren im Bereich des automatischen Testens tätig. Davor arbeitete er viele Jahre in der Elektronik-Entwicklung.,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer EUR 1.160,00(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Fördermöglichkeiten
weniger bezahlen – so geht´s