Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

Beschreibung

Der Einsatz neuer Technologien sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozesssicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und die Einführung neuer Testverfahren. In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und die Qualität steigern will.

Ziel des Seminars

Das Seminar vermittelt den Teilnehmern das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit ihren Vor- und Nachteilen, die Erarbeitung von optimalen Teststrategien sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld.

Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitätssteigerung. Die optimale Teststrategie zu ermitteln ist Teamarbeit von Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitätssicherung.

Teilnehmerkreis

Dieses Seminar richtet sich an Ingenieure, Techniker, Elektroniker und Prozessverantwortliche aus den Unternehmensbereichen Entwicklung, Fertigung, Prüffeld, Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen und elektronischen Geräten.

Seminarthemen im Überblick

Stand der letzten Durchführung:

Dienstag, 6. und Mittwoch, 7. März 2018
8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr

> Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
> Automatische Inspektion (AOI, AXI)
> In-Circuit-Testverfahren
> Funktionstestverfahren
> Selbsttest (BIST)
> Emulationsverfahren
> Simulation
> Boundary Scan
> Realisierungen bei Testsystemen
> Vergleich der Testverfahren bezüglich Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
> Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
> CAD-Link für Testsysteme
> Computerunterstützte Reparatur
> Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
> Adaptierungsmöglichkeiten
> Optimierung von Teststrategien

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Die nächsten Termine

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