Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

Absicherung der Zuverlässigkeit

Auf einen Blick

2 Tages-Seminar
17.10.2018 - 18.10.2018
9:00 Uhr
in Reutlingen

IHK-Akademie Reutlingen
Allmendstraße 7
72770 Reutlingen

Preis: 1.100 EUR(MwSt.-frei)

Veranstaltung Nr. 34476.00.005


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Referent:
L. R. Stoll
TECS Prüftechnik, Furtwangen

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Beschreibung

> Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
>Automatische Inspektion (AOI, AXI)
>In-Circuit-Testverfahren
>Funktions-
testverfahren
>Selbsttest (BIST)
>Emulationsverfahren
> Simulation
>Boundary Scan
>Realisierungen bei Testsystemen
>Vergleich der Testverfahren bezüglich Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten

> Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
> CAD-Link für Testsysteme
> computerunterstützte Reparatur
> Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
> Adaptierungsmöglichkeiten
> Optimierung von Teststrategien

Ziel des Seminars

Das Seminar vermittelt den Teilnehmern das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit ihren Vor- und Nachteilen, die Erarbeitung von optimalen Teststrategien sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld.

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen
ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Teilnehmerkreis

Dieses Seminar richtet sich an Ingenieure, Techniker, Elektroniker und Prozessver-
antwortliche aus den Unternehmensbe-
reichen Entwicklung, Fertigung, Prüffeld, Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen und elektronischen Geräten.

Seminarthemen im Überblick

Stand der letzten Durchführung:

Mittwoch, 18. und Donnerstag, 19. Oktober 2017
9.00 bis 12.00 und 13.30 bis 17.00 Uhr

> Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
> Automatische Inspektion (AOI, AXI)
> In-Circuit-Testverfahren
> Funktionstestverfahren
> Selbsttest (BIST)
> Emulationsverfahren
> Simulation
> Boundary Scan
> Realisierungen bei Testsystemen
> Vergleich der Testverfahren bezüglich Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
> Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
> CAD-Link für Testsysteme
> Computerunterstützte Reparatur
> Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
> Adaptierungsmöglichkeiten
> Optimierung von Teststrategien

Referenten

Lothar R. Stoll
TECS Prüftechnik, Furtwangen. Lothar Stoll ist seit über 30 Jahren im Bereich des automatischen Testens tätig. Davor arbeitete er viele Jahre in der Elektronik-Entwicklung.,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer 1.100 EUR(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Die nächsten Termine

Datum / Uhrzeit Seminartitel Ort Preis
17.10.2018, 9:00 Uhr Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik Reutlingen$$ortdetail$$ 1.100 EUR

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