Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

Absicherung der Qualität und Zuverlässigkeit

Auf einen Blick

2 Tages-Seminar
videocam Live-Online 29.09.2022 - 30.09.2022
9:00 Uhr
Online
EUR 1.230,00(MwSt.-frei)
weniger bezahlen – so geht´s
Veranstaltung Nr. 35851.00.002


Referent:
Dipl.-Ing. Mario Blunk
Blunk electronic, Erfurt

Seite Testverfahren%20und%20Teststrategien%20in%20der%20Elektronik als PDF speichernSeite als PDF speichern

Seminar weiterempfehlen

Inhouse-Durchführung anfragen


Teilnehmer dieser Veranstaltung interessierten sich auch für

in Zusammenarbeit mit

VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)

Beschreibung

Der Einsatz neuer Technologien sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozesssicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und die Einführung neuer Testverfahren.
In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und die Qualität steigern will.

Ziel der Weiterbildung

Das Seminar vermittelt den Teilnehmern das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit ihren Vor- und Nachteilen. Es zeigt die Erarbeitung von optimalen Teststrategien, Möglichkeiten der Fehlerabdeckung sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld auf.

Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitätssteigerung. Die optimale Teststrategie zu ermitteln, ist Teamarbeit von Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitätssicherung.

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Teilnehmer:innenkreis

Das Seminar richtet sich an Ingenieure, Techniker, Elektroniker und Prozessverantwortliche aus den Unternehmensbereichen Entwicklung, Fertigung, Prüffeld, Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen und elektronischen Geräten.

Inhalte

Donnerstag, 29. und Freitag, 30. September 2022
9.00 bis 16.30 Uhr inklusive Pausen

Warum Prüfungen und Testverfahren?

Wo entstehen Fehler?

Was wird wie genau geprüft?

Klassifikation von Fehlern

Einfluss- und Störgrößen im Fertigungsprozess

Prüfort, Zeitpunkt, Kosten

Kriterien für Prüf- und Testverfahren

Testverfahren im Überblick – Vor- und Nachteile

Sichtkontrolle MVI, AOI, AXI, IRT

In-Circuit Test (ICT)

Flying-Probe Test (FPT)

Boundary-Scan Test (BST)

Selbsttest (BIST)

Funktionstest (FT)

Adaptierung

Design for Test (DFT)

Referent:innen

Dipl.-Ing. Mario Blunk
Erfurt,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet ausführliche Seminarunterlagen.

Die Teilnehmerzahl ist begrenzt, um den optimalen Lernerfolg zu garantieren.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer EUR 1.230,00(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Fördermöglichkeiten
weniger bezahlen – so geht´s

Die nächsten Termine

Datum / Uhrzeit Seminartitel Ort Preis
29.09.2022, 9:00 Uhr Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik Online$$ortdetail$$ EUR 1.230,00
20.04.2023, 9:00 Uhr Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik Online$$ortdetail$$ EUR 1.230,00

© Technische Akademie Esslingen e.V., An der Akademie 5, 73760 Ostfildern  | Impressum