Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik
Absicherung der Qualität und Zuverlässigkeit
Auf einen Blick
2 Tages-Seminar
videocam Live-Online
29.09.2022 - 30.09.2022
9:00 Uhr
Online
EUR 1.230,00(MwSt.-frei)
weniger bezahlen – so geht´s
Veranstaltung Nr. 35851.00.002
|
Referent: Dipl.-Ing. Mario Blunk Blunk electronic, Erfurt |
Seite als PDF speichernTeilnehmer dieser Veranstaltung interessierten sich auch für
in Zusammenarbeit mit
Beschreibung
Der Einsatz neuer Technologien sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozesssicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und die Einführung neuer Testverfahren.
In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und die Qualität steigern will.
Ziel der Weiterbildung
Das Seminar vermittelt den Teilnehmern das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit ihren Vor- und Nachteilen. Es zeigt die Erarbeitung von optimalen Teststrategien, Möglichkeiten der Fehlerabdeckung sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld auf.
Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitätssteigerung. Die optimale Teststrategie zu ermitteln, ist Teamarbeit von Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitätssicherung.
Sie erhalten Qualität
| Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert. |
Teilnehmer:innenkreis
Das Seminar richtet sich an Ingenieure, Techniker, Elektroniker und Prozessverantwortliche aus den Unternehmensbereichen Entwicklung, Fertigung, Prüffeld, Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen und elektronischen Geräten.
Inhalte
Donnerstag, 29. und Freitag, 30. September 2022
9.00 bis 16.30 Uhr inklusive Pausen
Warum Prüfungen und Testverfahren?
Wo entstehen Fehler?
Was wird wie genau geprüft?
Klassifikation von Fehlern
Einfluss- und Störgrößen im Fertigungsprozess
Prüfort, Zeitpunkt, Kosten
Kriterien für Prüf- und Testverfahren
Testverfahren im Überblick – Vor- und Nachteile
Sichtkontrolle MVI, AOI, AXI, IRT
In-Circuit Test (ICT)
Flying-Probe Test (FPT)
Boundary-Scan Test (BST)
Selbsttest (BIST)
Funktionstest (FT)
Adaptierung
Design for Test (DFT)
Referent:innen
Dipl.-Ing. Mario Blunk
Erfurt,
Termine & Preise
Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet ausführliche Seminarunterlagen.
Die Teilnehmerzahl ist begrenzt, um den optimalen Lernerfolg zu garantieren.
Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer EUR 1.230,00(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.
Fördermöglichkeiten
weniger bezahlen – so geht´s