Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme

In Zusammenarbeit mit dem VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)

Auf einen Blick

2 Tages-Seminar
04.10.2017 - 05.10.2017
8:45 Uhr
in Wien
Preis: 1.030 EUR

Veranstaltung Nr. 34918.00.003


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Referent:
Dipl.-Ing. A. Gottschalk
IQZG Consulting, Auditierung, Schulung, Coaching, Workshops, zu ESD und Zuverlässigkeit, Nördlingen

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Beschreibung


Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme ist ein Muss und erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und Methodiken, um sowohl mit entsprechenden Zuverlässigkeitsprogrammen und -strategien als auch mit Umwelt- und Lebensdauertests zielführende Schlüsse aus den gewonnenen Ergebnissen zu ziehen. Das Seminar vermittelt praktizierbares Wissen über Zuverlässigkeit, relevante Methoden, Prozesse und Zuverlässigkeitsmanagement.

Inhalt des Seminars:
> Einführung
> Kenngrößen der Zuverlässigkeit
> Zuverlässigkeitsprüfungen/Umweltsimulationstests/Qualifikationsabläufe/Erprobung
> Definition des Lebensdauertests und Ermittlung der Ausfallrate
> Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Zuverlässigkeitsanalyse, Methoden (einige)
> Hinweise zu Normen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren
> Hinweise zur Literatur mit beispielhaften Anschauungsexemplaren
 

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen
ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Seminarthemen im Überblick

Stand der letzten Durchführung:

Dienstag, 28. und Mittwoch, 29. März 2017
8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr

1. Einführung
> Motivation und Zielsetzung, Definition
> Lebensdauerkurve
> Zuverlässigkeitsmanagement
> Inhalte eines Zuverlässigkeitsprogramms
> Aufgabenstellung Reliability Engineering
> rechtliche Aspekte
> Hinweise zu Methoden, Tools und verfügbarer SW
> Abkürzungen und Begriffe

2. Kenngrößen der Zuverlässigkeit
> Erläuterung einiger statistischer Begriffe (Grundlagen)
> Zuverlässigkeitskenngrößen wie Ausfallrate, MTBF/MTTF, Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallwahrscheinlichkeit, MTTR, MDT, Verfügbarkeit
> Zustandsdiagramme, Verfügbarkeit, Nichtverfügbarkeit
> Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauernetz
> Bestimmung der Weibullparameter
> Testdauer bei verfügbarer Anzahl der Prüflinge, geforderter Aussagesicherheit und gegebener Zuverlässigkeit (auch vice versa)
> Ermittlung der Ausfallrate unter Berücksichtigung von Beschleunigungsfaktoren
> Berechnung von Beispielen, Übungen

3. Zuverlässigkeitsprüfungen/Umweltsimulationstests/Qualifikationsabläufe/Erprobung
> Stresstests und Umweltsimulationsprüfungen
> Prinzip des Robustness Validation Prozesses
> Wirkung der Stresstests auf potenzielle Schwachstellen am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Beschleunigungsgesetze von Arrhenius, R. W. Lawson, Peck, Coffin-Manson mit Beispiel und Übungen
> Definition und Ableitung eines Mission Profile
> Vorgehensweise bei der Entwicklung eines Qualifikationsplanes
> Ablauf und Beispiel von Qualifikationen für IC's, ECU, PCB
> Berechnung von Beispielen, Übungen

4. Definition des Lebensdauertests und Ermittlung der Ausfallrate
> Gesetz von Arrhenius sowie Einfluss und Bedeutung der Aktivierungsenergie
> Bestimmung des Raffungsfaktors am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Ausfallrate und Vertrauensbereich, Chi-Quadrat Verteilung
> Hinweise und Interpretation zur Verwendung von FIT-Raten aus Herstellerangaben
> Umrechnung von Herstellerangaben auf Applikationsumgebung/Feldbedingungen
> Berechnung von Beispielen, Übungen

5. Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Motivation – Ziel – Erwartetes Ergebnis
> Kenngröße MTBF
> Parts Count und Part Stress Analysis Methode
> Qualitäts- und Belastungsfaktoren
> Quellen und Handbücher zu Ausfallraten
> typische Vorgehensweise bei der Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld
> Kriterien sowie Bereitstellung von Unterlagen
> Vorgehensweise bei der MTBF-Berechnung
> Interpretation ermittelter Ausfallraten bzw. MTBF/MTTF Werte
> Verwendung von Ausfallraten unter dem Aspekt Funktionaler Sicherheit
> Berechnung von Beispielen, Übungen

6. Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Prämissen und Vorgehensweise
> Zuverlässigkeitsblockdiagramm
> Ermittlung der Zuverlässigkeit unterschiedlicher serieller und paralleler Strukturen
> Ermittlung der Zuverlässigkeit gemischter Systeme
> Berechnung von Beispielen, Übungen

7. Zuverlässigkeitsanalyse, Methoden (einige Hinweise)
> LCC, Life Cycle Cost
> FMEA, Failure Modes and Effect Analysis
> FuSi, Funktionale Sicherheit
> Pareto
> Ursache-Wirkungs-Diagramm
> Boole
> FTA, Fault Tree Analysis
> Wahrscheinlichkeitsgesetze
> kurze Einführung zum Markov Prinzip

8. Hinweise zu Normen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

9. Hinweise zur Literatur mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

10. Abkürzungen und Begriffe

11. Zusammenfassung und Diskussion

Referenten

Dipl.-Ing. Armin Gottschalk
IQZG Consulting, Nördlingen,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.
Beim gemeinsamen Mittagessen findet ein reger Austausch mit den Referenten statt. Jeder Teilnehmer erhält zu Beginn des Seminars eine Mappe mit ausführlichen Seminarunterlagen.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer 1.030 EUR (mehrwertsteuerfrei), inklusive aller Extras.

Die nächsten Termine

Datum / Uhrzeit Seminartitel Ort Preis
04.10.2017, 8:45 Uhr Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme Wien 1.030 EUR

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