Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme

MTBF, FIT, Weibull & Co sicher beherrschen

In Zusammenarbeit mit dem VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)

Auf einen Blick

2 Tages-Seminar
04.10.2017 - 05.10.2017
8:45 Uhr
in Wien
Preis: 1.030 EUR

bis zu 50% Zuschuss möglich!

Veranstaltung Nr. 34918.00.003


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Referent:
Dipl.-Ing. A. Gottschalk
IQZG Consulting, Auditierung, Schulung, Coaching, Workshops, zu ESD und Zuverlässigkeit, Nördlingen

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Beschreibung

Elektronische Geräte und Anlagen mit hoher Bauelementedichte unter Einbeziehung von Hard- und Software erfordern aufgrund der vielfältig von einander abhängigen Funktionen ein Höchstmaß an Zuverlässigkeit, damit ein fehlerfreier Betrieb über einen definierten Zeitraum aufrechterhalten werden kann.

Hinweis
Bitte bringen Sie Schreibzeug, ein Geodreieck und einen Taschenrechner mit e-Funktion mit.

Das Seminar ist vom VDSI Verband Deutscher Sicherheitsingenieure e.V. als geeignet für die Weiterbildung von Sicherheitsfachkräften nach § 5 (3) ASiG eingestuft worden, und die Teilnehmer erhalten auf der qualifizierten Teilnahmebescheinigung 2 VDSI-Punkte Arbeitsschutz.

Ziel des Seminars

Zuverlässigkeitssicherung ist ein Muss und erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und Methodiken, um sowohl mit entsprechenden Zuverlässigkeitsprogrammen und -strategien als auch mit Umwelt- und Lebensdauertests zielführende Schlüsse aus den gewonnenen Ergebnissen zu ziehen. Das Seminar vermittelt praktizierbares Wissen über Zuverlässigkeit, relevante Methoden, Prozesse und Zuverlässigkeitsmanagement.

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen
ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Teilnehmerkreis

Dieses Seminar richtet sich an Mitarbeiter aus Entwicklung, Konstruktion, Qualitäts- und Zuverlässigkeitssicherung, Materialwirtschaft, Einkauf, Fertigung, Prüffeld und Instandhaltung.

Seminarthemen im Überblick

Mittwoch, 4. und Donnerstag, 5. Oktober 2017
8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr

1. Einführung
> Motivation und Zielsetzung, Definition
> Lebensdauerkurve
> Zuverlässigkeitsmanagement
> Inhalte eines Zuverlässigkeitsprogramms
> Aufgabenstellung Reliability Engineering
> rechtliche Aspekte
> Hinweise zu Methoden, Tools und verfügbarer SW
> Abkürzungen und Begriffe

2. Kenngrößen der Zuverlässigkeit
> Erläuterung einiger statistischer Begriffe (Grundlagen)
> Zuverlässigkeitskenngrößen wie Ausfallrate, MTBF/MTTF, Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallwahrscheinlichkeit, MTTR, MDT, Verfügbarkeit
> Zustandsdiagramme, Verfügbarkeit, Nichtverfügbarkeit
> Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauernetz
> Bestimmung der Weibullparameter
> Testdauer bei verfügbarer Anzahl der Prüflinge, geforderter Aussagesicherheit und gegebener Zuverlässigkeit (auch vice versa)
> Ermittlung der Ausfallrate unter Berücksichtigung von Beschleunigungsfaktoren
> Berechnung von Beispielen, Übungen

3. Zuverlässigkeitsprüfungen/Umweltsimulationstests/Qualifikationsabläufe/Erprobung
> Stresstests und Umweltsimulationsprüfungen
> Prinzip des Robustness Validation Prozesses
> Wirkung der Stresstests auf potenzielle Schwachstellen am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Beschleunigungsgesetze von Arrhenius, R. W. Lawson, Peck, Coffin-Manson mit Beispiel und Übungen
> Definition und Ableitung eines Mission Profile
> Vorgehensweise bei der Entwicklung eines Qualifikationsplanes
> Ablauf und Beispiel von Qualifikationen für IC's, ECU, PCB
> Berechnung von Beispielen, Übungen

4. Definition des Lebensdauertests und Ermittlung der Ausfallrate
> Gesetz von Arrhenius sowie Einfluss und Bedeutung der Aktivierungsenergie
> Bestimmung des Raffungsfaktors am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Ausfallrate und Vertrauensbereich, Chi-Quadrat Verteilung
> Hinweise und Interpretation zur Verwendung von FIT-Raten aus Herstellerangaben
> Umrechnung von Herstellerangaben auf Applikationsumgebung/Feldbedingungen
> Berechnung von Beispielen, Übungen

5. Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Motivation – Ziel – Erwartetes Ergebnis
> Kenngröße MTBF
> Parts Count und Part Stress Analysis Methode
> Qualitäts- und Belastungsfaktoren
> Quellen und Handbücher zu Ausfallraten
> typische Vorgehensweise bei der Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld
> Kriterien sowie Bereitstellung von Unterlagen
> Vorgehensweise bei der MTBF-Berechnung
> Interpretation ermittelter Ausfallraten bzw. MTBF/MTTF Werte
> Verwendung von Ausfallraten unter dem Aspekt Funktionaler Sicherheit
> Berechnung von Beispielen, Übungen

6. Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Prämissen und Vorgehensweise
> Zuverlässigkeitsblockdiagramm
> Ermittlung der Zuverlässigkeit unterschiedlicher serieller und paralleler Strukturen
> Ermittlung der Zuverlässigkeit gemischter Systeme
> Berechnung von Beispielen, Übungen

7. Zuverlässigkeitsanalyse, Methoden (einige Hinweise)
> LCC, Life Cycle Cost
> FMEA, Failure Modes and Effect Analysis
> FuSi, Funktionale Sicherheit
> Pareto
> Ursache-Wirkungs-Diagramm
> Boole
> FTA, Fault Tree Analysis
> Wahrscheinlichkeitsgesetze
> kurze Einführung zum Markov Prinzip

8. Hinweise zu Normen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

9. Hinweise zur Literatur mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

10. Abkürzungen und Begriffe

11. Zusammenfassung und Diskussion

Referenten

Dipl.-Ing. Armin Gottschalk
IQZG Consulting, Nördlingen,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer 1.030 EUR (mehrwertsteuerfrei), inklusive aller Extras.

Fördermöglichkeiten
Für dieses Seminar stehen Ihnen verschiedene Fördermöglichkeiten zur Verfügung.
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Die nächsten Termine

Datum / Uhrzeit Seminartitel Ort Preis
04.10.2017, 8:45 Uhr Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme Wien 1.030 EUR
20.03.2018, 8:45 Uhr Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme Wien 1.030 EUR

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