Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme

MTBF, FIT, Weibull & Co sicher beherrschen

In Zusammenarbeit mit dem VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)

Auf einen Blick

2 Tages-Seminar
neuer Termin in Planung in Wien
Veranstaltung Nr. 34918.00.005


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Beschreibung


Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme ist ein Muss und erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und Methodiken, um sowohl mit entsprechenden Zuverlässigkeitsprogrammen und -strategien als auch mit Umwelt- und Lebensdauertests zielführende Schlüsse aus den gewonnenen Ergebnissen zu ziehen. Das Seminar vermittelt praktizierbares Wissen über Zuverlässigkeit, relevante Methoden, Prozesse und Zuverlässigkeitsmanagement.

Inhalt des Seminars:
> Einführung
> Kenngrößen der Zuverlässigkeit
> Zuverlässigkeitsprüfungen/Umweltsimulationstests/Qualifikationsabläufe/Erprobung
> Definition des Lebensdauertests und Ermittlung der Ausfallrate
> Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Zuverlässigkeitsanalyse, Methoden (einige)
> Hinweise zu Normen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren
> Hinweise zur Literatur mit beispielhaften Anschauungsexemplaren
 

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Seminarthemen im Überblick

Stand der letzten Durchführung:

Dienstag, 20. und Mittwoch, 21. März 2018
8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr

1. Einführung
> Motivation und Zielsetzung, Definition
> Lebensdauerkurve
> Zuverlässigkeitsmanagement
> Inhalte eines Zuverlässigkeitsprogramms
> Aufgabenstellung Reliability Engineering
> rechtliche Aspekte
> Hinweise zu einigen Analysemethoden und Tools
> Hinweise zu verfügbarer SW
> Abkürzungen und Begriffe

2. Kenngrößen der Zuverlässigkeit
> Erläuterung einiger statistischer Begriffe (Grundlagen)
> Zuverlässigkeitskenngrößen wie Ausfallrate, MTBF/MTTF, Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallwahrscheinlichkeit, MTTR, MDT, Verfügbarkeit
> Zustandsdiagramme, Verfügbarkeit, Nichtverfügbarkeit
> Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauernetz
> Bestimmung der Weibullparameter
> Testdauer bei verfügbarer Anzahl der Prüflinge, geforderter Aussagesicherheit und gegebener Zuverlässigkeit (auch vice versa)
> Ermittlung der Ausfallrate unter Berücksichtigung von Beschleunigungsfaktoren
> Berechnung von Beispielen, Übungen

3. Zuverlässigkeitsprüfungen/Umweltsimulationstests/Qualifikationsabläufe/Erprobung
> Stresstests und Umweltsimulationsprüfungen
> Prinzip des Robustness Validation Prozesses
> Wirkung der Stresstests auf potenzielle Schwachstellen am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Beschleunigungsgesetze von Arrhenius, R. W. Lawson, Peck, Coffin-Manson mit Beispiel und Übungen
> Definition und Ableitung eines Mission Profile
> Vorgehensweise bei der Entwicklung eines Qualifikationsplanes
> Ablauf und Beispiel von Qualifikationen für IC's, ECU, PCB
> Berechnung von Beispielen, Übungen

4. Definition des Lebensdauertests und Ermittlung der Ausfallrate
> Gesetz von Arrhenius sowie Einfluss und Bedeutung der Aktivierungsenergie
> Bestimmung des Beschleunigungsfaktors am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Ausfallrate und Vertrauensbereich, Chi-Quadrat Verteilung
> Hinweise und Interpretation zur Verwendung von FIT-Raten aus Herstellerangaben
> Umrechnung von Herstellerangaben auf Applikationsumgebung/Feldbedingungen
> Berechnung von Beispielen, Übungen

5. Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Motivation – Ziel – Erwartetes Ergebnis
> Kenngröße MTBF
> Parts Count und Part Stress Analysis Methode
> Qualitäts- und Belastungsfaktoren
> Quellen und Handbücher zu Ausfallraten
> typische Vorgehensweise bei der Erfassung
von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld
> Kriterien sowie Bereitstellung von Unterlagen
> Vorgehensweise bei der MTBF-Berechnung
> Interpretation ermittelter Ausfallraten bzw. MTBF/MTTF Werte
> Verwendung von Ausfallraten unter dem Aspekt Funktionaler Sicherheit, FuSi
> Berechnung von Beispielen, Übungen

6. Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Prämissen und Vorgehensweise
> Zuverlässigkeitsblockdiagramm
> Ermittlung der Zuverlässigkeit unterschiedlicher serieller und paralleler Strukturen
> Ermittlung der Zuverlässigkeit gemischter Systeme
> grundlegendes zur Fehlerbaumanalyse FBA
> kurze Einführung zum Markov Prinzip
> Berechnung von Beispielen, Übungen

7. Hinweise zu Normen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

8. Hinweise zur Literatur mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

9. Abkürzungen und Begriffe

10. Zusammenfassung und Diskussion

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

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