--- title: Seminar Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme url: "https://www.tae.de/weiterbildung/elektrotechnik-elektronik/bauelemente-systeme/zuverlaessigkeitssicherung-elektronischer-komponenten-und-systeme/" description: Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallraten, MTBF, FIT, Weibull und Co. sowie Beschleunigungsgesetze sicher beherrschen ▷ Die Zuverlässigkeitssicherung ist ein Muss und besonders dann, wenn die zu erwartenden Risiken zu minimieren sind. Es erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und... image: "https://www.tae.de/_assets/cf7b9e929dc16279bbae7f6de48311fe/Assets/Images/OgImageTaeFocus-2026.png" date: 2026-06-30 course_identifier: 32453 course_type: OS course_state: buchbar course_delivery_type: Flex (Präsenz oder Online) course_duration: 2 Tage course_price_eur: 1170.00 course_departments: - "Elektrotechnik & Elektronik" - Automotive - "Konstruktion & Entwicklung" course_categories: - "Bauelemente & Systeme" - "Fahrzeugelektronik, Software & Connectivity" - "Methoden & Verfahren" next_event_end: 2026-07-01 next_event_location: Technische Akademie Esslingen upcoming_dates: - 2026-06-30 bis 2026-07-01, Technische Akademie Esslingen - 2026-12-01 bis 2026-12-02, Technische Akademie Esslingen course_speakers: - Dipl.-Ing. Armin Gottschalk, IQZG Consulting reviews_average: 4.5 reviews_count: 2 --- # Seminar Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme Durchführung gesichert! Die notwendige Mindestteilnehmerzahl ist bereits erreicht. Sie haben damit maximale Planungssicherheit. Bitte beachten Sie dennoch die Infos zu [„4. Absage und Rücktritt“](https://www.tae.de/agb/#c1643) in unseren [AGB](https://www.tae.de/agb/) Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme ================================================================== Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallraten, MTBF, FIT, Weibull und Co. sowie Beschleunigungsgesetze sicher beherrschen ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------ Beginn: 30.06.2026 - 08:45 Uhr Ende: 01.07.2026 - 16:45 Uhr Dauer: 2,0 Tage weitere Termine [ 01.12.2026, Ostfildern ](#additionaldates) Ostfildern [ ](https://www.tae.de/lernsettings/) Veranstaltungsnr.: 32453.00.035 Leitung [ Dipl.-Ing. Armin Gottschalk ](#speaker23) IQZG Consulting Präsenz EUR 1.170,00 (MwSt.-frei) Mitgliederpreis EUR 1.053,00 (MwSt.-frei) Beschreibung Elektronische Geräte und Anlagen mit hoher Bauelementedichte unter Einbeziehung von Hard- und Software erfordern aufgrund der vielfältig voneinander abhängigen Funktionen ein Höchstmaß an Zuverlässigkeit. Auf dieser Basis kann ein fehlerfreier Betrieb über einen definierten Zeitraum aufrechterhalten werden. **Ziel der Weiterbildung** Die Zuverlässigkeitssicherung ist ein Muss und besonders dann, wenn die zu erwartenden Risiken zu minimieren sind. Es erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und Methodiken. Mit entsprechenden Kenntnissen der Zuverlässigkeit, deren Berechnung sowie Entwicklung und Bewertung der Ergebnisse durchgeführter Umweltsimulations- und Lebensdauertests lassen sich zielführende Folgerungen gewinnen. Das Seminar vermittelt Ihnen praktizierbares Wissen über Zuverlässigkeit, relevante Methoden, Prozesse und Zuverlässigkeitsmanagement. HINWEIS Bitte bringen Sie Schreibzeug, ein Geodreieck und einen Taschenrechner mit e-Funktion mit. Programm Dienstag, 30. Juni und Mittwoch, 1. Juli 2026 8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr **1. Einführung** - Motivation und Zielsetzung, Definition - Lebensdauerkurve - Zuverlässigkeitsmanagement - Aspekte der Zuverlässigkeit bei der Entwicklung - Inhalte eines Zuverlässigkeitsprogramms - Aufgabenstellung Reliability Engineering - Hinweise zu rechtlichen Aspekten - Hinweise zu Methoden, Tools und SW **2. Kenngrößen der Zuverlässigkeit** - Erläuterung einiger statistischer (Basis-)Begriffe - Darstellung verwendeter Formeln zur Anwendung mittels Excel mit Hinweisen zum Aufbau einer Formelsammlung - Zuverlässigkeitskenngrößen wie Ausfallrate, MTBF/MTTF, Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallwahrscheinlichkeit, MTTR, MDT, Zustandsdiagramme, Verfügbarkeit, Nichtverfügbarkeit - Ermittlung der Ausfallrate mittels Chi² – Verteilung unter Berücksichtigung des Vertrauensbereiches - Ermittlung der Ausfallrate unter Berücksichtigung von Beschleunigungsfaktoren - Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauernetz - Bestimmung der Weibullparameter - Testdauer bei verfügbarer Anzahl der Prüflinge, geforderter Aussagesicherheit und gegebener Zuverlässigkeit (auch vice versa) - Binomialverteilung, Larson-Nomogramm - Berechnung von Beispielen, Übungen **3. Zuverlässigkeitsprüfungen – Umweltsimulationstests – Qualifikationsabläufe – Erprobung** - Stresstests, Umweltsimulationsprüfungen - Normen und Standards zu Umweltsimulationsprüfungen - Wirkung der Stresstests auf potenzielle Schwachstellen an Beispielen passiver und aktiver Bauelemente, Baugruppen und elektronischer Geräte (Beispiele von Ausfallmechanismen) - Definition und Ableitung eines Mission Profile - Übersicht zu Beschleunigungsmodellen - Lebensdauertest: Ermittlung von Beschleunigungsfaktoren mittels Gesetz von Arrhenius sowie Einfluss und Bedeutung der Aktivierungsenergie, Bestimmung der Beschleunigungsfaktoren am Beispiel elektronischer Bauelemente und Geräte, Testdurchführung Hinweise und Interpretation zur Verwendung von FIT-Raten aus Herstellerangaben Applikationsumgebung/Feldbedingungen - Feuchte-Wärme Prüfung: Ermittlung der Beschleunigungsfaktoren mittels der Gesetze von Peck und Lawson, Testdurchführung - Temperaturzyklen Tests: Ermittlung der Beschleunigungsfaktoren mittels Gesetz von Coffin-Manson, Testdurchführung - Aspekte zur Vorgehensweise bei ungenügenden Prüflingszahlen oder unzureichend verfügbarer Testzeit - weitere Prüfungen - Vorgehensweise bei der Entwicklung eines Qualifikationsplanes - Ablauf und Beispiel von Qualifikationen für IC's, PCB, elektronischen Geräten - Darstellung verwendeter Formeln zur Anwendung mittels Excel - Berechnung von Beispielen, Übungen **4. Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen und Geräten** - Motivation, Ziel, erwartetes Ergebnis - Kenngröße MTBF - Parts Count und Part Stress Analysis Methode - Qualitäts- und Belastungsfaktoren - Quellen und Handbücher zu Ausfallraten - typische Vorgehensweise bei der Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld - Kriterien sowie Bereitstellung von Unterlagen - Vorgehensweise bei der MTBF-Berechnung - Interpretation und Verwendung ermittelter Ausfallraten bzw. MTBF/MTTF-Werte - Verwendung von Ausfallraten unter dem Aspekt Funktionaler Sicherheit (FuSi) - Darstellung verwendeter Formeln zur Anwendung mittels Excel - Berechnung von Beispielen und Übungen **5. Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme** - Prämissen und Vorgehensweise - Zuverlässigkeitsblockdiagramm - Ermittlung der Zuverlässigkeit unterschiedlicher serieller und paralleler Strukturen - Ermittlung der Zuverlässigkeit gemischter Systeme - k- aus n-Struktur und Sondersysteme - Berechnung von Beispielen, Übung zur Ermittlung von R(t) für ein gegebenes System - Grundlagen der Ausfallwahrscheinlichkeits- und Überlebenswahrscheinlichkeitsermittlung bei der FTA – Fault Tree Analysis (FBA – Fehlerbaum-Analyse) - Ermittlung der Ausfallwahrscheinlichkeit für ein gegebenes System bei der Fault Tree Analysis, FTA bzw. FBA - Darstellung verwendeter Formeln zur Anwendung mittels Excel - Berechnung von Beispielen und Übungen **6. Hinweise zu Normen** **7. Hinweise zur Literatur** **8. Abkürzungen und Begriffe** **9. Zusammenfassung und Diskussion** Teilnehmer:innenkreis Das Seminar richtet sich an Mitarbeiter/-innen aus Entwicklung, Konstruktion, Qualitäts- und Zuverlässigkeitssicherung, Materialwirtschaft, Einkauf, Fertigung, Prüffeld und Instandhaltung. Das Seminar ist vom VDSI Verband Deutscher Sicherheitsingenieure e.V. als geeignet für die Weiterbildung von Sicherheitsfachkräften nach § 5 (3) ASiG eingestuft worden, und die Teilnehmer/-innen erhalten auf der qualifizierten Teilnamebescheinigung 2 VDSI-Punkte Arbeitsschutz. Referent:innen Dipl.-Ing. Armin GottschalkIQZG Consulting IQZG Consulting, Nördlingen Veranstaltungsort und Hotel Technische Akademie Esslingen An der Akademie 5 73760 Ostfildern [Anfahrt](https://www.google.de/maps/dir//48.7157380000000000,9.2905800000000000/@48.7157380000000000,9.2905800000000000,12z)Die TAE befindet sich im Südwesten Deutschlands im Bundesland Baden-Württemberg – in unmittelbarer Nähe zur Landeshauptstadt Stuttgart. Unser Schulungszentrum verfügt über eine hervorragende Anbindung und ist mit allen Verkehrsmitteln gut und schnell zu erreichen. ![Anfahrt und Parken: TAE - Technische Akademie Esslingen](https://www.tae.de/fileadmin/_processed_/7/9/csm_Header_Anreise_2c44327494.jpg "Anfahrt und Parken: TAE - Technische Akademie Esslingen") Gebühren und Fördermöglichkeiten Die Teilnahme beinhaltet [Verpflegung](https://www.tae.de/service/verpflegung/) sowie ausführliche Unterlagen. **Preis:** Die Teilnahmegebühr beträgt: 1.170,00 € (MwSt.-frei) **Fördermöglichkeiten:** Für den aktuellen Veranstaltungstermin steht Ihnen die [ESF-Fachkursförderung](https://www.tae.de/foerdermoeglichkeiten/esf/ "https://www.tae.de/foerdermoeglichkeiten/esf/") leider nicht zur Verfügung. Für alle weiteren Termine erkundigen Sie sich bitte vorab bei unserer [Anmeldung](https://www.tae.de/service/kontakt/ "https://www.tae.de/service/kontakt/"). Andere Bundesland-spezifische Fördermöglichkeiten finden Sie [hier](https://www.tae.de/foerdermoeglichkeiten/sonstige-bund-laender-eu/ "https://www.tae.de/foerdermoeglichkeiten/sonstige-bund-laender-eu/"). Weitere Termine und Orte Datum Beginn: 01.12.2026 Ende: 02.12.2026 Lernsetting & Ort Ostfildern [ ](https://www.tae.de/lernsettings/) Preis EUR 1.170,00 [ In den Warenkorb ](https://www.tae.de/weiterbildung/elektrotechnik-elektronik/bauelemente-systeme/zuverlaessigkeitssicherung-elektronischer-komponenten-und-systeme/cart/add/event/181656/cart.html?cHash=ff499821184bc743ddb786648343769f) Bewertungen unserer Teilnehmer MS Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme | 04.07.2024 | verifiziert Grundstein für das Selbststudium Vielseitig aufbereitete Sammlung von Normen und Literatur, kombiniert mit dem vermittelten Basiswissen machen es mir möglich mich selbstständig weiter in das Thema einzuarbeiten. Die Vorträge waren von Fachwissen und Erfahrung geprägt, sind meiner Meinung nach aber ohne ein geringes Vorwissen nur schwer zu verstehen gewesen. Die TAE ist ein ruhiger und gemütlicher Veranstaltungsort und das Catering mit Snacks, Getränken, Mittagessen und Kaffee war mehr als nur ausreichend. Anonym Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme | 04.07.2024 | verifiziert Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme Ich war mit der Veranstaltung insgesamt sehr zufrieden, sowohl in Bezug auf die Seminarinhalte und deren Vermittlung, als auch mit der Organisation und Verpflegung.