Metallographische Untersuchungsmethoden, Teil C - mit Übungen

Das Gefüge und seine Interpretation

Auf einen Blick

2,5 Tages-Seminar
25.09.2019 - 27.09.2019
8:30 Uhr
in Stuttgart

MPA Universität Stuttgart
Materialprüfungsanstalt
Pfaffenwaldring 32
70569 Stuttgart

EUR 1.450,00(MwSt.-frei)

bis zu 70% Zuschuss möglich!

Veranstaltung Nr. 33503.00.013


Referenten:
Dr. S. Bueble
Carl Zeiss Microscopy GmbH, Oberkochen
Dr. rer. nat. F. Kauffmann
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr. rer. nat. J. Kinder
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. habil. K. Maile
ehem. Prof. an der Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart, Stuttgart
Dr. rer. nat. H. Ruoff
Waldstetten
R. Scheck
Leonberg
Dr. rer. nat. E. Soppa
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. M. Speicher
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. A. Udoh
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dipl.-Ing. D. Willer
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart

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Beschreibung

Die Metallographie ist ein besonderes Verfahren der Werkstoffprüfung und eine unverzichtbare Methode für die quantitative und qualitative Gefügebeurteilung und damit zur Überprüfung der geforderten Eigenschaften von Werkstoffen und Bauteilen.
Metallographische Untersuchungen und die Bewertung der Befunde stellen daher bei der Herstellung, beim Betrieb von Bauteilen und im Schadens- bzw. Garantiefall ein unentbehrliches Element der Qualitätssicherung dar. Für ein erfolgreiches metallographisches Arbeiten sind besondere Kenntnisse über die Herstellung von Schliffen sowie über die werkstoffkundlichen Zusammenhänge des Gefüges mit den Werkstoffeigenschaften, der Herstellung von Bauteilen bzw. dem Schädigungsverhalten notwendig.

Inhalte der vier Seminarteile
Es werden Kenntnisse und Fähigkeiten bei der Durchführung von metallographischen Arbeiten und Analysen erworben. Die praktische Kompetenz bei der Darstellung und Bewertung von Gefügebefunden wird vertieft.
In Teil A werden metallographisches Grundwissen und Handfertigkeiten in Verbindung mit werkstoffkundlichen Grundlagen angeboten.
In Teil B erfolgt eine praxisorientierte Vertiefung der Zusammenhänge zwischen Gefüge und Eigenschaften technisch relevanter Werkstoffe. Die Vorteile und Möglichkeiten von hochauflösenden metallographischen Gefüge- und Strukturuntersuchungen (Elektronenmikroskopie) werden in Teil C behandelt. In Teil D werden die besonderen Möglichkeiten der Metallographie zur Klärung von Schadensfällen und Qualitätsreklamationen mit praktischen Hinweisen zur Vorgehensweise vorgestellt.

Weitere Einzelheiten können der TAE-Internetseite www.metallografiekurs-tae.de entnommen werden.

Ziel der Weiterbildung

Das Seminar „Metallographische Untersuchungsmethoden, Teil C" verfolgt das Ziel, die Möglichkeiten und Vorteile der Elektronenmikroskopie in der Gefüge- und Schadensanalyse anschaulich zu erläutern und vorzustellen. Die Teilnehmer/-innen erhalten eine praktische Einführung in die Technik und Arbeitsweise der Elektronenmikroskopie mit den Schwerpunkten Rasterelektronenmikroskopie (Mikroanalyse, Focused Ion Beam (FIB), EBSD) sowie Transelektronenmikroskopie (Feinstrukturanalyse). Die besonderen Einsatzmöglichkeiten für die Bewertung von Gefügen im Zusammenhang mit der herkömmlichen lichtoptischen Metallographie werden anhand von praxisorientierten Beispielen und Demonstrationen an den Geräten diskutiert. Die damit verbundene erweiterte Anwendung der lichtmikroskopischen Metallographie wird für unterschiedliche technische Werkstoffe vorgestellt. Das Verständnis über die mikroskopischen Vorgänge in der Werkstoffstruktur soll vertieft werden. Mit den erworbenen Kenntnissen sollen die Teilnehmer/-innen beurteilen können, ob im Rahmen einer metallographischen Aufgabenstellung erweiterte elektronenmikroskopische Untersuchungen herangezogen werden müssen und welche Vorteile sie bieten.
Persönliche Fragestellungen aus dem Teilnehmerkreis können während des Kurses erörtert werden.

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Teilnehmerkreis

Das Seminar richtet sich sowohl an die direkten Anwender von elektronenmikroskopischen Untersuchungsverfahren als auch an Personen, die selbst nicht direkt damit arbeiten, aber die Ergebnisse bewerten bzw. umsetzen: Techniker und Ingenieure aus der Qualitätssicherung und -überwachung, der Herstellung und betrieblichen Überwachung,

Mitarbeiter/-innen in metallographischen Laboratorien und Prüflaboren sowie Werkstoffprüfer und Techniker für die Bearbeitung von Schadensfällen.

Inhalte

Mittwoch, 25. und Donnerstag, 26. September 2019
8.30 bis 12.00 und 13.00 bis 17.00 Uhr
Freitag, 27. September 2019
8.30 bis 13.30 Uhr

Theoretischer Teil

1. Überblick über die Einsatzmöglichkeiten der Elektronenmikroskopie bei metallographischen Arbeiten (K. Maile)

2. Vorstellung von geeigneten metallographischen Präparationsverfahren für elektronenmikroskopische Untersuchungen an Schliffen (R. Scheck)

3. Grundlagen der Abbildung im Raster- und Transmissionselektronenmikroskop (F. Kauffmann)

4. Röntgenmikroanalyse und Elektronenbeugung (EDX, WDX, EBSD) in der Werkstoffprüfung und -entwicklung (H. Ruoff)

5. Focused Ion Beam (FIB) in der Materialforschung (S. Bueble)

6. Elektronenmikroskopische Untersuchungen an Gusseisen und Stahlguss (A. Udoh)

7. Elektronenmikroskopische Untersuchungen an hochwarmfesten Werkstoffen (M. Speicher)

8. Elektronenmikroskopische Untersuchungen an Nichteisen-Metallen (J. Kinder)

9. Verwendung des FIB zur Charakterisierung des Gefüge- und Schädigungszustands (D. Willer)

10. Die Methode EBSD zur Untersuchung der verformungsinduzierten Martensitumwandlung in austenitischen Werkstoffen (E. Soppa)

11. Bewertung von Eigenschaften und Herstellbedingungen von Stählen mit Hilfe von Untersuchungen im Transmissionselektronenmikroskop (K. Maile, R. Scheck, M. Speicher)

Demonstrationen und Übungen

12. Übungen am Elektronenmikroskop
> Probenpräparation für das Rasterelektronenmikroskop (Ablösen von Belägen, Aufbrechen von Rissen, Bedampfen nichtleitender Proben)
> Demonstration von FIB-Schnitten an praktischen Beispielen
> Abbildung von Oberflächen (Bruchflächen, Korrosion, Verschleiß u.a.) im REM
> Beispiele von Abbildungsparametern und deren Bedeutung bei der Auswertung

13. Übungen am analytischen Transmissionselektronenmikroskop
> Charakterisierung von Ausscheidungen im Nanometer-Bereich
> Probenpräparation für das Transmissionselektronenmikroskop, dünne Metallfolien und Ausziehabdrücke

Abschlussbesprechung

Referenten

Leitung:
Dr.-Ing. habil. K. Maile
R. Scheck

Referenten:
Dr. Stefan Bueble
Carl Zeiss Microscopy GmbH, Oberkochen
Dr. rer. nat. Florian Kauffmann
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr. rer. nat. Joachim Kinder
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. habil. Karl Maile
ehem. Professor an der Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr. rer. nat. Herbert Ruoff
Waldstetten
Rudi Scheck
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr. rer. nat. Ewa Soppa
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. Magdalena Speicher
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. Annett Udoh
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dipl.-Ing. Dieter Willer
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Die Teilnehmerzahl ist begrenzt, um den optimalen Lernerfolg zu garantieren.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer EUR 1.450,00(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Fördermöglichkeiten
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Die nächsten Termine

Datum / Uhrzeit Seminartitel Ort Preis
25.09.2019, 8:30 Uhr Metallographische Untersuchungsmethoden, Teil C - mit Übungen Stuttgart$$ortdetail$$ EUR 1.450,00

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