Metallographische Untersuchungsmethoden, Teil C - mit Übungen

Das Gefüge und seine Interpretation

Auf einen Blick

3 Tages-Seminar
25.09.2019 - 27.09.2019
8:30 Uhr
in Stuttgart

MPA Universität Stuttgart
Materialprüfungsanstalt
Pfaffenwaldring 32
70569 Stuttgart

EUR 1.450,00(MwSt.-frei)

Veranstaltung Nr. 33503.00.013


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Referenten:
Dr. S. Bueble
Carl Zeiss Microscopy GmbH, Oberkochen
Dr. rer. nat. F. Kauffmann
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr. rer. nat. J. Kinder
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. habil. K. Maile
ehem. Prof. an der Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart, Stuttgart
Dr. rer. nat. H. Ruoff
Waldstetten
R. Scheck
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart, Otto-Graf-Institut
Dr. rer. nat. E. Soppa
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. M. Speicher
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. A. Udoh
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dipl.-Ing. D. Willer
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart

Beschreibung


Inhalt des Seminars:
Theoretischer Teil
> Elektronenmikroskopie als Hilfsmittel bei der Werkstoffentwicklung und Werkstoffoptimierung
> Grundlagen der Abbildung im Raster- und Transmissionselektronenmikroskop
> Röntgenmikroanalyse und Elektronenbeugung (EDX, WDX, EBSD) in der Werkstoffprüfung und -entwicklung
> Focussed Ion Beam (FIB) in der Materialforschung
> elektronenmikroskopische Untersuchungen an Gusseisen und Stahlguss
> elektronenmikroskopische Untersuchungen an hochwarmfesten Werkstoffen
> elektronenmikroskopische Untersuchungen an Nichteisen-Metallen
> Verwendung des FIB zur Charakterisierung des Gefüge- und Schädigungszustandes
> die Methode EBSD zur Untersuchung der verformungsinduzierten Martensitumwandlung in austenitischen Werkstoffen

Demonstrationen und Übungen an der Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
> Übung am REM I: Charakterisierung von Ausscheidungen (Aluminiumlegierung) und Probenvorbereitung
> Übung am REM II: Abbildung von Oberflächen (Bruchflächen, Korrosion, Verschleiß)
> Übungen am analytischen Transmissionselektronenmikroskop: Charakterisierung von Ausscheidungen im Nanometer-Bereich
> Probenpräparation für das Transmissionselektronenmikroskop, dünne Metallfolien und Ausziehabdrücke
> Probenpräparation für das Rasterelektronenmikroskop (Ablösen von Belägen, Aufbrechen von Rissen, Bedampfen nichtleitender Proben)
> Abschlussbesprechung

In den Übungen werden die erworbenen Kenntnisse vertieft.

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen
ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Seminarthemen im Überblick

Stand der letzten Durchführung:

Mittwoch, 12. und Donnerstag, 13. September 2018
8.30 bis 12.00 und 13.00 bis 17.00 Uhr
Freitag, 14. September 2018
8.30 bis 13.30 Uhr

Theoretischer Teil
1. Überblick über die Einsatzmöglichkeiten der Elektronenmikroskopie bei metallographischen Arbeiten (K. Maile)

2. Vorstellung von geeigneten metallographischen Präparationsverfahren für elektronenmikroskopische Untersuchungen an Schliffen (R. Scheck)

3. Grundlagen der Abbildung im Raster- und Transmissionselektronenmikroskop (F. Kauffmann)

4. Röntgenmikroanalyse und Elektronenbeugung (EDX, WDX, EBSD) in der Werkstoffprüfung und -entwicklung (H. Ruoff)

5. Focused Ion Beam (FIB) in der Materialforschung (S. Bueble)

6. Elektronenmikroskopische Untersuchungen an Gusseisen und Stahlguss (A. Udoh)

7. Elektronenmikroskopische Untersuchungen an hochwarmfesten Werkstoffen (M. Speicher)

8. Elektronenmikroskopische Untersuchungen an Nichteisen-Metallen (J. Kinder)

9. Verwendung des FIB zur Charakterisierung des Gefüge- und Schädigungszustands (D. Willer)

10. Die Methode EBSD zur Untersuchung der verformungsinduzierten Martensitumwandlung in austenitischen Werkstoffen (E. Soppa)

11. Bewertung von Eigenschaften und Herstellbedingungen von Stählen mit Hilfe von Untersuchungen im Transmissionselektronenmikroskop (K. Maile, R. Scheck, M. Speicher)

Demonstrationen und Übungen

12. Übungen am Elektronenmikroskop
> Probenpräparation für das Rasterelektronenmikroskop (Ablösen von Belägen, Aufbrechen von Rissen, Bedampfen nichtleitender Proben)
> Demonstration von FIB-Schnitten an praktischen Beispielen
> Abbildung von Oberflächen (Bruchflächen, Korrosion, Verschleiß…) im REM
> Beispiele von Abbildungsparametern und deren Bedeutung bei der Auswertung

13. Übungen am analytischen Transmissionselektronenmikroskop
> Charakterisierung von Ausscheidungen im Nanometer-Bereich
> Probenpräparation für das Transmissionselektronenmikroskop, dünne Metallfolien und Ausziehabdrücke

Abschlussbesprechung

Referenten

Leitung:
Dr.-Ing. habil. K. Maile
R. Scheck

Referenten:
Dr. Stefan Bueble
Carl Zeiss Microscopy GmbH, Oberkochen
Dr. rer. nat. Florian Kauffmann
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr. rer. nat. Joachim Kinder
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. habil. Karl Maile
ehem. Professor an der Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr. rer. nat. Herbert Ruoff
Waldstetten
Rudi Scheck
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr. rer. nat. Ewa Soppa
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. Magdalena Speicher
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. Annett Udoh
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dipl.-Ing. Dieter Willer
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Die Teilnehmerzahl ist auf 30 Teilnehmer begrenzt, um den optimalen Lernerfolg zu garantieren.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer EUR 1.450,00(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Die nächsten Termine

Datum / Uhrzeit Seminartitel Ort Preis
25.09.2019, 8:30 Uhr Metallographische Untersuchungsmethoden, Teil C - mit Übungen Stuttgart$$ortdetail$$ EUR 1.450,00

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