Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme

Beschreibung

Elektronische Geräte und Anlagen mit hoher Bauelementedichte unter Einbeziehung von Hard- und Software erfordern aufgrund der vielfältig von einander abhängigen Funktionen ein Höchstmaß an Zuverlässigkeit, damit ein fehlerfreier Betrieb über einen definierten Zeitraum aufrechterhalten werden kann.

Ziel der Weiterbildung

Zuverlässigkeitssicherung ist ein Muss und erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und Methodiken, um sowohl mit entsprechenden Zuverlässigkeitsprogrammen und -strategien als auch mit Umwelt- und Lebensdauertests zielführende Schlüsse aus den gewonnenen Ergebnissen zu ziehen. Das Seminar vermittelt praktizierbares Wissen über Zuverlässigkeit, relevante Methoden, Prozesse und Zuverlässigkeitsmanagement.

Hinweis
Bitte bringen Sie Schreibzeug, ein Geodreieck und einen Taschenrechner mit e-Funktion mit.

Teilnehmerkreis

Dieses Seminar richtet sich an Mitarbeiter aus Entwicklung, Konstruktion, Qualitäts- und Zuverlässigkeitssicherung, Materialwirtschaft, Einkauf, Fertigung, Prüffeld und Instandhaltung.

Das Seminar ist vom VDSI Verband Deutscher Sicherheitsingenieure e.V. als geeignet für die Weiterbildung von Sicherheitsfachkräften nach § 5 (3) ASiG eingestuft worden, und die Teilnehmer erhalten auf der qualifizierten Teilnamebescheinigung 2 VDSI-Punkte Arbeitsschutz.

Inhalte

Mittwoch, 18. und Donnerstag, 19. November 2020
8:45 bis 12:00 und 13:30 bis 16:45 Uhr

1. Einführung
> Motivation und Zielsetzung, Definition
> Lebensdauerkurve
> Zuverlässigkeitsmanagement
> Inhalte eines Zuverlässigkeitsprogramms
> Aufgabenstellung Reliability Engineering
> Hinweise zu rechtlichen Aspekten
> Hinweise zu Methoden, Tools und SW

2. Kenngrößen der Zuverlässigkeit
> Erläuterung einiger statistischer (Basis-)Begriffe
> Zuverlässigkeitskenngrößen wie Ausfallrate, MTBF/MTTF, Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallwahrscheinlichkeit, MTTR, MDT, Zustandsdiagramme, Verfügbarkeit, Nichtverfügbarkeit
> Ermittlung der Ausfallrate mittels Chi² – Verteilung unter Berücksichtigung des Vertrauensbereiches
> Ermittlung der Ausfallrate unter Berücksichtigung von Beschleunigungsfaktoren
> Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauernetz
> Bestimmung der Weibullparameter
> Testdauer bei verfügbarer Anzahl der Prüflinge, geforderter Aussagesicherheit und gegebener Zuverlässigkeit (auch vice versa), Binomialverteilung, Larson-Nomogramm
> Berechnung von Beispielen, Übungen

3. Zuverlässigkeitsprüfungen – Umweltsimulationstests – Qualifikationsabläufe – Erprobung
> Stresstests – Umweltsimulationsprüfungen
> Normen und Standards zu Umweltsimulationsprüfungen
> Wirkung der Stresstests auf potenzielle Schwachstellen an Beispielen passiver und aktiver Bauelemente, Baugruppen und elektronischer Geräte
> Übersicht zu Beschleunigungsmodellen
> Lebensdauertest:
>> Ermittlung von Beschleunigungsfaktoren mittels Gesetz von Arrhenius sowie Einfluss und Bedeutung der Aktivierungsenergie, Bestimmung des Beschleunigungsfaktoren am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte, Testdurchführung
>> Hinweise und Interpretation zur Verwendung von FIT-Raten aus Herstellerangaben Applikationsumgebung/Feldbedingungen
> Feuchte-Wärme Prüfung:
>> Ermittlung der Beschleunigungsfaktoren mittels der Gesetze von Peck und Lawson, Testdurchführung
> Temperaturzyklen Tests:
>> Ermittlung der Beschleunigungsfaktoren mittels Gesetz von Coffin-Manson, Testdurchführung
> Definition und Ableitung eines Mission Profile
> weitere Prüfungen
> Vorgehensweise bei der Entwicklung eines Qualifikationsplanes
> Ablauf und Beispiel von Qualifikationen für IC's, ECU, PCB
> Berechnung von Beispielen, Übungen

4. Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Motivation – Ziel – erwartetes Ergebnis
> Kenngröße MTBF
> Parts Count und Part Stress Analysis Methode
> Qualitäts- und Belastungsfaktoren
> Quellen und Handbücher zu Ausfallraten
> typische Vorgehensweise bei der Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld
> Kriterien sowie Bereitstellung von Unterlagen
> Vorgehensweise bei der MTBF-Berechnung
> Interpretation und Verwendung ermittelter Ausfallraten bzw. MTBF/MTTF-Werte
> Prinzip der HW-Bewertung unter dem Aspekt Funktionaler Sicherheit (FuSi)
> Berechnung von Beispielen und Übungen

5. Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Prämissen und Vorgehensweise
> Zuverlässigkeitsblockdiagramm
> Ermittlung der Zuverlässigkeit unterschiedlicher serieller und paralleler Strukturen
> Ermittlung der Zuverlässigkeit gemischter Systeme
> Berechnung von Beispielen, Übung zur Ermittlung von R(t) für ein gegebenes System

6. Einführung zur FTA – Fault Tree Analysis (FBA – Fehlerbaum-Analyse)
> Ziel, Anwendungsbereich, Voraussetzungen
> Definition, Begriffe und Symbole
> Vorgehen zur Konstruktion eines Fehlerbaumes
> Ermittlung der Ausfallwahrscheinlichkeit für ein gegebenes System
> Beispiel einer FTA
> Datenlage, Datenquelle
> Berechnung von Beispielen und Übungen

7. Hinweise zu Normen

8. Hinweise zur Literatur

9. Abkürzungen und Begriffe

10. Zusammenfassung und Diskussion

Referenten

Dipl.-Ing. Armin Gottschalk
IQZG Consulting, Nördlingen,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer EUR 1.100,00(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Fördermöglichkeiten
Für diese Veranstaltung steht Ihnen die ESF-Fachkursförderung zur Verfügung.
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