Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme

MTBF, FIT, Weibull und Co sicher beherrschen

In Zusammenarbeit mit dem VDE-Bezirksverein Württemberg e.V. (VDE)

Auf einen Blick

2 Tages-Seminar
26.06.2018 - 27.06.2018
8:45 Uhr
in Ostfildern

Technische Akademie Esslingen
An der Akademie 5
73760 Ostfildern

Preis: 1.100 EUR(MwSt.-frei)

bis zu 50% Zuschuss möglich!

Veranstaltung Nr. 32453.00.017


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Referent:
Dipl.-Ing. A. Gottschalk
IQZG Consulting, Auditierung, Schulung, Coaching, Workshops, zu ESD und Zuverlässigkeit, Nördlingen

Beschreibung


Schwerpunkte des Seminars:
> Einführung
> Kenngrößen der Zuverlässigkeit, Berechnung von Beispielen, Übungen
> Zuverlässigkeitsprüfungen/Umweltsimulationstests/Qualifikationsabläufe/Erprobung
> Definition des Lebensdauertests und Ermittlung der Ausfallrate
> Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Zuverlässigkeitsanalysen, Methoden (einige)
> Hinweise zu Normen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren
> Hinweise zu Literaturstellen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren



Ihr Nutzen:
Zuverlässigkeitssicherung ist ein Muss und erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und Methodiken, um sowohl mit entsprechenden Zuverlässigkeitsprogrammen und -strategien als auch mit Umwelt- und Lebensdauertests zielführende Schlüsse aus den gewonnenen Ergebnissen zu ziehen. Das Seminar vermittelt praktizierbares Wissen über Zuverlässigkeit, relevante Methoden, Prozesse und Zuverlässigkeitsmanagement.

 

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen
ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Seminarthemen im Überblick

Stand der letzten Durchführung:

Dienstag, 28. und Mittwoch, 29. November 2017
8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr

1. Einführung
> Motivation und Zielsetzung, Definition
> Lebensdauerkurve
> Zuverlässigkeitsmanagement
> Inhalte eines Zuverlässigkeitsprogramms
> Aufgabenstellung Reliability Engineering
> Hinweise zu rechtlichen Aspekten
> Hinweise zu Methoden, Tools und SW

2. Kenngrößen der Zuverlässigkeit
> Erläuterung einiger statistischer Begriffe (Grundlagen)
> Zuverlässigkeitskenngrößen wie Ausfallrate, MTBF/MTTF, Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallwahrscheinlichkeit, MTTR, MDT, Zustandsdiagramme, Verfügbarkeit, Nichtverfügbarkeit
> Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauernetz
> Bestimmung der Weibullparameter
> Testdauer bei verfügbarer Anzahl der Prüflinge, geforderter Aussagesicherheit und gegebener Zuverlässigkeit
> Ermittlung der Ausfallrate unter Berücksichtigung von Beschleunigungsfaktoren
> Larson Nomogramm
> Hinweise zu verfügbarer Software
> Berechnung von Beispielen, Übungen

3. Zuverlässigkeitsprüfungen/Umweltsimulationstests/Qualifikationsabläufe/Erprobung
> Stresstests und Umweltsimulationsprüfungen
> Prinzip des Robustness Validation Prozesses
> Wirkung der Stresstests auf potenzielle Schwachstellen am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Beschleunigungsgesetze von Arrhenius, R. W. Lawson, Peck, Coffin-Manson mit Beispiel und Übungen
> Definition und Ableitung eines Mission Profile
> Vorgehensweise bei der Entwicklung eines Qualifikationsplanes
> Ablauf und Beispiel von Qualifikationen für IC's, ECU, PCB
> Ablauf einer Fehleranalyse und Analysetechniken
> Berechnung von Beispielen, Übungen

4. Definition des Lebensdauertests und Ermittlung der Ausfallrate
> Gesetz von Arrhenius sowie Einfluss und Bedeutung der Aktivierungsenergie
> Bestimmung des Raffungsfaktors am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Ausfallrate und Vertrauensbereich, Chi-Quadrat Verteilung
> Hinweise und Interpretation zur Verwendung von FIT-Raten aus Herstellerangaben
> Umrechnung von Herstellerangaben auf Applikationsumgebung/Feldbedingungen
> Berechnung von Beispielen, Übungen

5. Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Motivation – Ziel – Erwartetes Ergebnis
> Kenngröße MTBF
> Parts Count und Part Stress Analysis Methode
> Qualitäts- und Belastungsfaktoren
> Quellen und Handbücher zu Ausfallraten
> typische Vorgehensweise bei der Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld
> Kriterien sowie Bereitstellung von Unterlagen
> Vorgehensweise bei der MTBF-Berechnung
> Interpretation ermittelter Ausfallraten bzw. MTBF/MTTF Werte
> Prinzip der HW-Bewertung unter dem Aspekt Funktionaler Sicherheit
> Berechnung von Beispielen und Übungen

6. Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Prämissen und Vorgehensweise
> Zuverlässigkeitsblockdiagramm
> Ermittlung der Zuverlässigkeit unterschiedlicher serieller und paralleler Strukturen
> Ermittlung der Zuverlässigkeit gemischter Systeme
> Berechnung von Beispielen, Übung zur Ermittlung von R(t) für ein gegebenes System

7. Zuverlässigkeitsanalyse (Überblick zu einigen Methoden)
> LCC, Life Cycle Cost
> FMEA, Failure Modes and Effect Analysis
> FuSi, Funktionale Sicherheit
> Pareto
> Ursache-Wirkungs-Diagramm
> Boole
> FTA, Fault Tree Analysis
> Wahrscheinlichkeitsgesetze
> kurze Einführung zum Markov Prinzip

8. Hinweise zu Normen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

9. Hinweise zur Literatur mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

10. Abkürzungen und Begriffe

11. Zusammenfassung und Diskussion

Referenten

Dipl.-Ing. Armin Gottschalk
IQZG Consulting, Nördlingen,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer 1.100 EUR(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Fördermöglichkeiten
Für dieses Seminar stehen Ihnen verschiedene Fördermöglichkeiten zur Verfügung.
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Die nächsten Termine

Datum / Uhrzeit Seminartitel Ort Preis
26.06.2018, 8:45 Uhr Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme Ostfildern$$ortdetail$$ 1.100 EUR

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