Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme

Beschreibung

Elektronische Geräte und Anlagen mit hoher Bauelementedichte unter Einbeziehung von Hard- und Software erfordern aufgrund der vielfältig von einander abhängigen Funktionen ein Höchstmaß an Zuverlässigkeit, damit ein fehlerfreier Betrieb über einen definierten Zeitraum aufrechterhalten werden kann.

Ziel des Seminars

Zuverlässigkeitssicherung ist ein Muss und erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und Methodiken, um sowohl mit entsprechenden Zuverlässigkeitsprogrammen und -strategien als auch mit Umwelt- und Lebensdauertests zielführende Schlüsse aus den gewonnenen Ergebnissen zu ziehen. Das Seminar vermittelt praktizierbares Wissen über Zuverlässigkeit, relevante Methoden, Prozesse und Zuverlässigkeitsmanagement.

Hinweis
Bitte bringen Sie Schreibzeug, ein Geodreieck und einen Taschenrechner mit e-Funktion mit.

Teilnehmerkreis

Dieses Seminar richtet sich an Mitarbeiter aus Entwicklung, Konstruktion, Qualitäts- und Zuverlässigkeitssicherung, Materialwirtschaft, Einkauf, Fertigung, Prüffeld und Instandhaltung.

Das Seminar ist vom VDSI Verband Deutscher Sicherheitsingenieure e.V. als geeignet für
die Weiterbildung von Sicherheitsfachkräften nach § 5 (3) ASiG eingestuft worden, und die
Teilnehmer erhalten auf der qualifizierten Teilnamebescheinigung 2 VDSI-Punkte Arbeitsschutz.

Seminarthemen im Überblick

Dienstag, 27. und Mittwoch, 28. November 2018
8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr

1. Einführung
> Motivation und Zielsetzung, Definition
> Lebensdauerkurve
> Zuverlässigkeitsmanagement
> Inhalte eines Zuverlässigkeitsprogramms
> Aufgabenstellung Reliability Engineering
> Hinweise zu rechtlichen Aspekten
> Hinweise zu Methoden, Tools und SW

2. Kenngrößen der Zuverlässigkeit
> Erläuterung einiger statistischer (Basis-)Begriffe
> Zuverlässigkeitskenngrößen wie Ausfallrate, MTBF/MTTF, Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallwahrscheinlichkeit, MTTR, MDT
> Zustandsdiagramme, Verfügbarkeit, Nichtverfügbarkeit, kurze Erläuterung zum Markov Prinzip
> Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauernetz
> Bestimmung der Weibullparameter
> Testdauer bei verfügbarer Anzahl der Prüflinge, geforderter Aussagesicherheit und gegebener Zuverlässigkeit (auch vice versa)
> Ermittlung der Ausfallrate unter Berücksichtigung von Beschleunigungsfaktoren
> Berechnung von Beispielen, Übungen

3. Zuverlässigkeitsprüfungen/Umweltsimulationstests/Qualifikationsabläufe/Erprobung
> Stresstests/Umweltsimulationsprüfungen
> Wirkung der Stresstests und Fehlermechanismen
> Definition und Ableitung eines Mission Profile
> Beschleunigungsgesetze von Arrhenius, R. W. Lawson, Peck, Coffin-Manson mit Beispiel und Übungen
> Vorgehensweise bei der Entwicklung eines Qualifikationsplanes
> Ablauf und Beispiel von Qualifikationen für IC's, ECU, PCB
> Berechnung von Beispielen, Übungen

4. Definition des Lebensdauertests und Ermittlung der Ausfallrate
> Gesetz von Arrhenius sowie Einfluss und Bedeutung der Aktivierungsenergie
> Bestimmung des Beschleunigungsfaktors am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Ausfallrate und Vertrauensbereich, Chi-Quadrat Verteilung
> Hinweise und Interpretation zur Verwendung von FIT-Raten aus Herstellerangaben
> Umrechnung von Herstellerangaben auf Applikationsumgebung/Feldbedingungen
> Berechnung von Beispielen, Übungen

5. Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Motivation – Ziel – erwartetes Ergebnis
> Kenngröße MTBF
> Parts Count und Part Stress Analysis Methode
> Qualitäts- und Belastungsfaktoren
> Quellen und Handbücher zu Ausfallraten
> typische Vorgehensweise bei der Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld
> Kriterien sowie Bereitstellung von Unterlagen
> Vorgehensweise bei der MTBF-Berechnung
> Interpretation und Verwendung ermittelter Ausfallraten bzw. MTBF/MTTF-Werte
> Prinzip der HW-Bewertung unter dem Aspekt Funktionaler Sicherheit (FuSi)
> Berechnung von Beispielen und Übungen

6. Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Prämissen und Vorgehensweise
> Zuverlässigkeitsblockdiagramm
> Ermittlung der Zuverlässigkeit unterschiedlicher serieller und paralleler Strukturen
> Ermittlung der Zuverlässigkeit gemischter Systeme
> Berechnung von Beispielen, Übung zur Ermittlung von R(t) für ein gegebenes System
> FTA, Fault Tree Analysis (FBA – Fehlerbaumanalyse)

7. Hinweise zu Normen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

8. Hinweise zur Literatur mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

9. Abkürzungen und Begriffe

10. Zusammenfassung und Diskussion

Referenten

Dipl.-Ing. Armin Gottschalk
IQZG Consulting, Nördlingen,

Termine & Preise

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer EUR 1.100,00(MwSt.-frei), inklusive aller Extras.

Fördermöglichkeiten
Für dieses Seminar stehen Ihnen verschiedene Fördermöglichkeiten zur Verfügung.
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