WICHTIG: Eingeschränkter Parkraum. Bitte informieren Sie sich vor Ihrer Anreise über die aktuelle Parksituation. Mehr erfahren
MENU

Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme

Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallraten, MTBF, FIT, Weibull und Co. sowie Beschleunigungsgesetze sicher beherrschen

Angebot runterladen
für

Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme

Ihre Anschrift
Beginn :
01.07.2025 - 08:45 Uhr
Ende :
02.07.2025 - 16:45 Uhr
Dauer :
2,0 Tage
Veranstaltungsnr :
32453.00.033
Leitung
IQZG Consulting
Präsenz
EUR 1.170,00
(MwSt.-frei)
Mitgliederpreis
Im Rahmen des Bezahlprozesses können Sie die Mitgliedschaft beantragen.
EUR 1.053,00
(MwSt.-frei)
in Zusammenarbeit mit :
Referent:in

Dipl.-Ing. Armin Gottschalk

IQZG Consulting, Nördlingen

Beschreibung

Elektronische Geräte und Anlagen mit hoher Bauelementedichte unter Einbeziehung von Hard- und Software erfordern aufgrund der vielfältig voneinander abhängigen Funktionen ein Höchstmaß an Zuverlässigkeit. Auf dieser Basis kann ein fehlerfreier Betrieb über einen definierten Zeitraum aufrechterhalten werden.



Ziel der Weiterbildung

Die Zuverlässigkeitssicherung ist ein Muss und besonders dann, wenn die zu erwartenden Risiken zu minimieren sind. Es erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und Methodiken. 

Mit entsprechenden Kenntnissen der Zuverlässigkeit, deren Berechnung sowie Entwicklung und Bewertung der Ergebnisse durchgeführter Umweltsimulations- und Lebensdauertests lassen sich zielführende Folgerungen gewinnen.

Das Seminar vermittelt Ihnen praktizierbares Wissen über Zuverlässigkeitskennwerte, relevante Methoden, Prozesse und Zuverlässigkeitsmanagement.



HINWEIS
Bitte bringen Sie Schreibzeug, ein Geodreieck und einen Taschenrechner mit e-Funktion mit.

Programm

Dienstag, 1. und Mittwoch, 2. Juli 2025
8.45 bis 12.00 und 13.30 bis 16.45 Uhr

1. Einführung

  • Motivation und Zielsetzung, Definition
  • Lebensdauerkurve
  • Zuverlässigkeitsmanagement
  • Aspekte der Zuverlässigkeit bei der Entwicklung
  • Inhalte eines Zuverlässigkeitsprogramms
  • Aufgabenstellung Reliability Engineering
  • Hinweise zu rechtlichen Aspekten
  • Hinweise zu Methoden, Tools und SW

2. Kenngrößen der Zuverlässigkeit

  • Erläuterung einiger statistischer (Basis-)Begriffe
  • Darstellung verwendeter Formeln zur Anwendung mittels Excel mit Hinweisen zum Aufbau einer Formelsammlung
  • Zuverlässigkeitskenngrößen wie Ausfallrate, MTBF/MTTF, Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallwahrscheinlichkeit, MTTR, MDT, Zustandsdiagramme, Verfügbarkeit, Nichtverfügbarkeit
  • Ermittlung der Ausfallrate mittels Chi² – Verteilung unter Berücksichtigung des Vertrauensbereiches
  • Ermittlung der Ausfallrate unter Berücksichtigung von Beschleunigungsfaktoren
  • Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauernetz
  • Bestimmung der Weibullparameter
  • Testdauer bei verfügbarer Anzahl der Prüflinge, geforderter Aussagesicherheit und gegebener Zuverlässigkeit (auch vice versa)
  • Binomialverteilung, Larson-Nomogramm
  • Berechnung von Beispielen, Übungen

3. Zuverlässigkeitsprüfungen – Umweltsimulationstests – Qualifikationsabläufe – Erprobung

  • Stresstests, Umweltsimulationsprüfungen
  • Normen und Standards zu Umweltsimulationsprüfungen
  • Wirkung der Stresstests auf potenzielle Schwachstellen an Beispielen passiver und aktiver Bauelemente, Baugruppen und elektronischer Geräte (Beispiele von Ausfallmechanismen)
  • Definition und Ableitung eines Mission Profile
  • Übersicht zu Beschleunigungsmodellen
  • Lebensdauertest:
    Ermittlung von Beschleunigungsfaktoren mittels Gesetz von Arrhenius sowie Einfluss und Bedeutung der Aktivierungsenergie, Bestimmung der Beschleunigungsfaktoren am Beispiel elektronischer Bauelemente und Geräte, Testdurchführung 
    Hinweise und Interpretation zur Verwendung von FIT-Raten aus Herstellerangaben Applikationsumgebung/Feldbedingungen
  • Feuchte-Wärme Prüfung:
    Ermittlung der Beschleunigungsfaktoren mittels der Gesetze von Peck und Lawson, Testdurchführung
  • Temperaturzyklen Tests:
    Ermittlung der Beschleunigungsfaktoren mittels Gesetz von Coffin-Manson, Testdurchführung
  • Aspekte zur Vorgehensweise bei ungenügenden Prüflingszahlen oder unzureichend verfügbarer Testzeit
  • weitere Prüfungen
  • Vorgehensweise bei der Entwicklung eines Qualifikationsplanes
  • Beispiele von Qualifikationsplänen für IC's, PCB, elektronischen Geräten
  • Darstellung verwendeter Formeln zur Anwendung mittels Excel
  • Berechnung von Beispielen, Übungen

4. Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen und Geräten

  • Motivation, Ziel, erwartetes Ergebnis
  • Kenngröße MTBF
  • Parts Count und Part Stress Analysis Methode
  • Qualitäts- und Belastungsfaktoren
  • Quellen und Handbücher zu Ausfallraten
  • typische Vorgehensweise bei der Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld
  • Kriterien sowie Bereitstellung von Unterlagen
  • Vorgehensweise bei der MTBF-Berechnung
  • Interpretation und Verwendung ermittelter Ausfallraten bzw. MTBF/MTTF-Werte
  • Verwendung von Ausfallraten unter dem Aspekt Funktionaler Sicherheit (FuSi)
  • Darstellung verwendeter Formeln zur Anwendung mittels Excel
  • Berechnung von Beispielen und Übungen

5. Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme

  • Prämissen und Vorgehensweise
  • Zuverlässigkeitsblockdiagramm
  • Ermittlung der Zuverlässigkeit unterschiedlicher serieller und paralleler Strukturen
  • Ermittlung der Zuverlässigkeit gemischter Systeme
  • k- aus n-Struktur und Sondersysteme
  • Berechnung von Beispielen, Übung zur Ermittlung von R(t) für ein gegebenes System
  • Grundlagen der Ausfallwahrscheinlichkeits- und Überlebenswahrscheinlichkeitsermittlung bei der FTA – Fault Tree Analysis (FBA – Fehlerbaum-Analyse)
  • Ermittlung der Ausfallwahrscheinlichkeit für ein gegebenes System bei der Fault Tree Analysis, FTA bzw. FBA
  • Darstellung verwendeter Formeln zur Anwendung mittels Excel
  • Berechnung von Beispielen und Übungen

6. Hinweise zu Normen

7. Hinweise zur Literatur

8. Abkürzungen und Begriffe

9. Zusammenfassung und Diskussion

Teilnehmer:innenkreis

Das Seminar richtet sich an Mitarbeiter/-innen aus Entwicklung, Konstruktion, Qualitäts- und Zuverlässigkeitssicherung, Materialwirtschaft, Einkauf, Fertigung, Prüffeld und Instandhaltung.

Das Seminar ist vom VDSI Verband Deutscher Sicherheitsingenieure e.V. als geeignet für die Weiterbildung von Sicherheitsfachkräften nach § 5 (3) ASiG eingestuft worden, und die Teilnehmer/-innen erhalten auf der qualifizierten Teilnamebescheinigung 2 VDSI-Punkte Arbeitsschutz.

Referent:innen
Dipl.-Ing. Armin Gottschalk

IQZG Consulting, Nördlingen

Veranstaltungsort
Technische Akademie Esslingen
An der Akademie 5
73760 Ostfildern
Anfahrt

Die TAE befindet sich im Südwesten Deutschlands im Bundesland Baden-Württemberg – in unmittelbarer Nähe zur Landeshauptstadt Stuttgart. Unser Schulungszentrum verfügt über eine hervorragende Anbindung und ist mit allen Verkehrsmitteln gut und schnell zu erreichen.

Anfahrt und Parken: TAE - Technische Akademie Esslingen
Gebühren und Fördermöglichkeiten

Die Teilnahme beinhaltet Verpflegung sowie ausführliche Unterlagen.

Preis:
Die Teilnahmegebühr beträgt:
1.170,00 € (MwSt.-frei)

Fördermöglichkeiten:

Für den aktuellen Veranstaltungstermin steht Ihnen die ESF-Fachkursförderung mit bis zu 70 % Zuschuss zu Ihrer Teilnahmegebühr zur Verfügung (solange das Fördervolumen noch nicht ausgeschöpft ist).
Für alle weiteren Termine erkundigen Sie sich bitte vorab bei unserer Anmeldung.

Weitere Bundesland-spezifische Fördermöglichkeiten finden Sie hier.

Inhouse Durchführung:
Sie möchten diese Veranstaltung firmenintern bei Ihnen vor Ort durchführen? Dann fragen Sie jetzt ein individuelles Inhouse-Training an.

Weitere Termine und Orte

Datum
Beginn: 03.12.2025
Ende: 04.12.2025
Lernsetting & Ort
Ostfildern
Preis
EUR 1.170,00
Bewertungen unserer Teilnehmer
(4,5 von 5)
5 Sterne
(1)
4 Sterne
(1)
3 Sterne
(0)
2 Sterne
(0)
1 Sterne
(0)
0 Sterne
(0)
MS
Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme | 04.07.2024 | verifiziert
Grundstein für das Selbststudium

Vielseitig aufbereitete Sammlung von Normen und Literatur, kombiniert mit dem vermittelten Basiswissen machen es mir möglich mich selbstständig weiter in das Thema einzuarbeiten.

Die Vorträge waren von Fachwissen und Erfahrung geprägt, sind meiner Meinung nach aber ohne ein geringes Vorwissen nur schwer zu verstehen gewesen. Die TAE ist ein ruhiger und gemütlicher Veranstaltungsort und das Catering mit Snacks, Getränken, Mittagessen und Kaffee war mehr als nur ausreichend.

Anonym
Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme | 04.07.2024 | verifiziert
Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Komponenten und Systeme

Ich war mit der Veranstaltung insgesamt sehr zufrieden, sowohl in Bezug auf die Seminarinhalte und deren Vermittlung, als auch mit der Organisation und Verpflegung.

TAE Newsletter

Bleiben Sie informiert! Entdecken Sie den TAE Themen-Newsletter mit aktuellen Veranstaltungen rund um Ihren persönlichen Tätigkeitsbereich. Direkt anmelden, Interessensbereiche auswählen und regelmäßig relevante Infos zu unserem Weiterbildungsangebot erhalten – abgestimmt auf Ihren Bedarf.

Jetzt registrieren
Fragen zur Veranstaltung?

Ihr Ansprechpartner für die Veranstaltung