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Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

Absicherung der Qualität und Zuverlässigkeit

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Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

Ihre Anschrift

Beginn:
18.04.2024 - 09:00 Uhr
Ende:
19.04.2024 - 16:30 Uhr
Dauer:
2,0 Tage
Veranstaltungsnr:
35851.00.005
Leitung
Blunk electronic
Live-Online
EUR 1.270,00
(MwSt.-frei)
Mitgliederpreis
Im Rahmen des Bezahlprozesses können Sie die Mitgliedschaft beantragen.
EUR 1.143,00
(MwSt.-frei)
in Zusammenarbeit mit:
Beschreibung
Der Einsatz neuer Technologien sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozesssicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und die Einführung neuer Testverfahren. In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und die Qualität steigern will.

Ziel der Weiterbildung

Das Seminar vermittelt den Teilnehmern das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit ihren Vor- und Nachteilen. Es zeigt die Erarbeitung von optimalen Teststrategien, Möglichkeiten der Fehlerabdeckung sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld auf. Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitätssteigerung. Die optimale Teststrategie zu ermitteln, ist Teamarbeit von Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitätssicherung. Auf die Bedeutung des prüfgerechten Entwurfs (Design for Test / DFT) wird anhand zahlreicher Beispiele aus der Praxis hingewiesen.

Schwerpunkt des Seminars sind die Eigenschaften, Vor- und Nachteile und die Anwendung gängiger Prüf- und Testverfahren wie In-Circuit-Test (ICT), Flying-Probe-Test (FPT), Funktionstest (FT). Auf das Verfahren Boundary-Scan-Test (BST/JTAG/IEEE1149.1) wird detailliert eingegangen und dessen grundlegende Mechanismen und Voraussetzungen erklärt.
Programm

Donnerstag, 18. und Freitag, 19. April 2024
9.00 bis 16.30 Uhr inklusive Pausen

Warum Prüfungen und Testverfahren?

Wo entstehen Fehler?

Was wird wie genau geprüft?

Klassifikation von Fehlern

Einfluss- und Störgrößen im Fertigungsprozess

Prüfort, Zeitpunkt, Kosten

Kriterien für Prüf- und Testverfahren

Testverfahren im Überblick – Vor- und Nachteile, Anwendung

Prüfgerechter Entwurf (Design for Test)

Teilnehmer:innenkreis
Das Seminar richtet sich an Ingenieure, Techniker, Elektroniker und Prozessverantwortliche aus den Unternehmensbereichen Entwicklung, Fertigung, Prüffeld, Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen und elektronischen Geräten.
Veranstaltungsort

ONLINE

Gebühren und Fördermöglichkeiten

Die Teilnahme beinhaltet ausführliche Unterlagen.

Preis:
Die Teilnahmegebühr beträgt:
1.270,00 € (MwSt.-frei) pro Teilnehmer

Fördermöglichkeiten:

Für den aktuellen Veranstaltungstermin steht Ihnen die ESF-Fachkursförderung mit bis zu 70 % Zuschuss zu Ihrer Teilnahmegebühr zur Verfügung (solange das Fördervolumen noch nicht ausgeschöpft ist).
Für alle weiteren Termine erkundigen Sie sich bitte vorab bei unserer Anmeldung.

Weitere Bundesland-spezifische Fördermöglichkeiten finden Sie hier.

Inhouse Durchführung:
Sie möchten diese Veranstaltung firmenintern bei Ihnen vor Ort durchführen? Dann fragen Sie jetzt ein individuelles Inhouse-Training an.

Weitere Termine und Orte

Datum
Beginn: 18.04.2024
Ende: 19.04.2024
Lernsetting & Ort
Live-Online
Preis
EUR 1.270,00
Datum
Beginn: 19.09.2024
Ende: 20.09.2024
Lernsetting & Ort
Live-Online
Preis
EUR 1.270,00

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Dipl.-Ing. Roland Bach