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Grundlagen der Oberflächentopographie

Rauheit und Rauheitsmessung – erkennen, messen und verstehen

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Grundlagen der Oberflächentopographie

Ihre Anschrift

Beginn:
13.03.2024 - 09:00 Uhr
Ende:
13.03.2024 - 16:30 Uhr
Dauer:
1,0 Tag
Veranstaltungsnr:
35825.00.004
Leitung
TU Wien
Live-Online
EUR 610,00
(MwSt.-frei)
Mitgliederpreis
Im Rahmen des Bezahlprozesses können Sie die Mitgliedschaft beantragen.
EUR 549,00
(MwSt.-frei)
Referent:in

Univ.-Prof. Dr.-Ing. Carsten Gachot

TU Wien

Beschreibung
Heutzutage ermöglicht eine umfassende Auswahl von Kennwerten die funktionsgerechte Charakterisierung der Beschaffenheit von Oberflächen. In diesem Seminar werden die wichtigsten Kennwerte und Kennkurven zur Charakterisierung der Eigenschaften von Oberflächen erläutert. Leider wird oftmals versucht, die komplexe Mikrostruktur einer Oberfläche mit einem einzigen Kennwert zu beschreiben. Dies ist nicht möglich und hier schaffen die Normen durch passgenaue Kennwerte für bestimmte Merkmale Abhilfe. Die ISO-konformen Messbedingungen sind Voraussetzung, um vergleichbare Ergebnisse zu erzielen. Hierzu gehört die Wahl des richtigen Filters, der Grenzwellenlänge und der Messstrecke. Aber auch die Angabe der Messstrategie gehört zur eindeutigen Prüfung von Oberflächen dazu. Häufig stehen die Angaben der Oberflächenbeschaffenheit am Oberflächenzeichen nicht im Einklang mit der internationalen ISO-Normung.

Ziel der Weiterbildung

Ziel des Seminars ist es, einen Überblick über alle Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächen zu geben. Damit werden die Teilnehmer:innen in die Lage versetzt, funktionsrelevante Kennwerte auszuwählen und diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben. Anmerkung: Das Seminar erläutert die Neuerungen der neuen Norm ISO 21920 mit ihren drei Teilen.

HINWEIS Dieses Seminar ist Bestandteil des Zertifikatslehrgangs „Tribologie Experte (TAE)“ www.tae.de/60160 sowie des Zertifikatslehrgangs „Oberflächen Spezialist (TAE)“ www.tae.de/60163 und kann auch einzeln gebucht werden.
Programm

Mittwoch, 13. März 2024
9.00 bis 16.30 Uhr, inkl. Pausen

Einführung in das Thema Rauheit 

  • GPS-System und Normen 
  • normative Übersicht 
  • Ordnungssystem
  • Welligkeit und Rauheit

Profile, Filter, Messbedingungen 

  • Profile und Filter 
  • Messbedingungen

Kennwerte und Kennkurven: Profil-Kennwerte 2D 

  • Primär-Profil
  • Rauheits-Profil
  • Welligkeits-Profil

Toleranzakzeptanzregeln 

  • Höchstwert (Max)-Regel 
  • 16%-Regel
  • Median-Regel

Oberflächenangabe Zeichnung 

  • Oberflächenzeichen
  • Rauheit und Welligkeit

Oberflächenmesstechnik 

  • taktile Messverfahren
Teilnehmer:innenkreis
Dieses Seminar richtet sich an Entwickler, Konstrukteure, Fertiger und Mitarbeiter der Qualitätssicherung, die Oberflächengüte definieren und Messergebnisse interpretieren müssen.
Referent:innen

Univ.-Prof. Dr.-Ing. Carsten Gachot

TU Wien

Veranstaltungsort

ONLINE

Gebühren und Fördermöglichkeiten

Die Teilnahme beinhaltet ausführliche Unterlagen.

Preis:
Die Teilnahmegebühr beträgt:
610,00 € (MwSt.-frei) pro Teilnehmer

Fördermöglichkeiten:

Bei einem Großteil unserer Veranstaltungen profitieren Sie von bis zu 70 % Zuschuss aus der ESF-Fachkursförderung.
Bisher sind diese Mittel für den vorliegenden Kurs nicht bewilligt. Dies kann verschiedene Gründe haben. Wir empfehlen Ihnen daher, Kontakt mit unserer Anmeldung aufzunehmen. Diese gibt Ihnen gerne Auskunft über die Förderfähigkeit der Veranstaltung.

Weitere Bundesland-spezifische Fördermöglichkeiten finden Sie hier.

Inhouse Durchführung:
Sie möchten diese Veranstaltung firmenintern bei Ihnen vor Ort durchführen? Dann fragen Sie jetzt ein individuelles Inhouse-Training an.

Weitere Termine und Orte

Datum
Beginn: 13.03.2024
Ende: 13.03.2024
Lernsetting & Ort
Live-Online
Preis
EUR 610,00

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Ihr Ansprechpartner für die Veranstaltung

Dipl.-Ing. Roland Schöll, MBA
Dipl.-Ing. Roland Schöll, MBA