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Grundlagen der Oberflächentopographie

Rauheit und Rauheitsmessung – erkennen, messen und verstehen

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Grundlagen der Oberflächentopographie

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Beginn :
12.03.2025 - 09:00 Uhr
Ende :
12.03.2025 - 16:30 Uhr
Dauer :
1,0 Tag
Veranstaltungsnr :
35825.00.005
Leitung
TU Wien
Präsenz oder Online
EUR 610,00
(MwSt.-frei)
Mitgliederpreis
Im Rahmen des Bezahlprozesses können Sie die Mitgliedschaft beantragen.
EUR 549,00
(MwSt.-frei)
Beschreibung

Heutzutage ermöglicht eine umfassende Auswahl von Kennwerten die funktionsgerechte Charakterisierung der Beschaffenheit von Oberflächen. In diesem Seminar werden die wichtigsten Kennwerte und Kennkurven zur Charakterisierung der Eigenschaften von Oberflächen erläutert. Leider wird oftmals versucht, die komplexe Mikrostruktur einer Oberfläche mit einem einzigen Kennwert zu beschreiben. Dies ist nicht möglich und hier schaffen die Normen durch passgenaue Kennwerte für bestimmte Merkmale Abhilfe.

Die ISO-konformen Messbedingungen sind Voraussetzung, um vergleichbare Ergebnisse zu erzielen. Hierzu gehört die Wahl des richtigen Filters, der Grenzwellenlänge und der Messstrecke. Aber auch die Angabe der Messstrategie gehört zur eindeutigen Prüfung von Oberflächen dazu. Häufig stehen die Angaben der Oberflächenbeschaffenheit am Oberflächenzeichen nicht im Einklang mit der internationalen ISO-Normung.



Ziel der Weiterbildung

Ziel des Seminars ist es, einen Überblick über alle Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächen zu geben. Damit werden die Teilnehmer:innen in die Lage versetzt, funktionsrelevante Kennwerte auszuwählen und diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben.

Anmerkung: 
Das Seminar erläutert die Neuerungen der neuen Norm ISO 21920 mit ihren drei Teilen.



HINWEIS

Dieses Seminar ist Bestandteil des Zertifikatslehrgangs „Tribologie Experte (TAE)“ www.tae.de/60160 sowie des Zertifikatslehrgangs „Oberflächen Spezialist (TAE)“ www.tae.de/60163 und kann auch einzeln gebucht werden.

Programm

Mittwoch, 12. März 2025
9.00 bis 16.30 Uhr, inkl. Pausen

Einführung in das Thema Rauheit 

  • GPS-System und Normen 
  • normative Übersicht 
  • Ordnungssystem
  • Welligkeit und Rauheit

Profile, Filter, Messbedingungen 

  • Profile und Filter 
  • Messbedingungen

Kennwerte und Kennkurven: Profil-Kennwerte 2D 

  • Primär-Profil
  • Rauheits-Profil
  • Welligkeits-Profil

Toleranzakzeptanzregeln 

  • Höchstwert (Max)-Regel 
  • 16%-Regel
  • Median-Regel

Oberflächenangabe Zeichnung 

  • Oberflächenzeichen
  • Rauheit und Welligkeit

Oberflächenmesstechnik 

  • taktile Messverfahren
Teilnehmer:innenkreis

Dieses Seminar richtet sich an Entwickler, Konstrukteure, Fertiger und Mitarbeiter der Qualitätssicherung, die Oberflächengüte definieren und Messergebnisse interpretieren müssen.

Veranstaltungsort

Technische Akademie Esslingen

An der Akademie 5
73760 Ostfildern
Anfahrt

Die TAE befindet sich im Südwesten Deutschlands im Bundesland Baden-Württemberg – in unmittelbarer Nähe zur Landeshauptstadt Stuttgart. Unser Schulungszentrum verfügt über eine hervorragende Anbindung und ist mit allen Verkehrsmitteln gut und schnell zu erreichen.

Anfahrt und Parken: TAE - Technische Akademie Esslingen
Gebühren und Fördermöglichkeiten

Die Teilnahme beinhaltet Verpflegung (vor Ort) sowie ausführliche Unterlagen.

Preis:
Die Teilnahmegebühr beträgt:
610,00 € (MwSt.-frei) vor Ort
610,00 € (MwSt.-frei) pro Teilnehmer live online

Fördermöglichkeiten:

Bei einem Großteil unserer Veranstaltungen profitieren Sie von bis zu 70 % Zuschuss aus der ESF-Fachkursförderung.
Bisher sind diese Mittel für den vorliegenden Kurs nicht bewilligt. Dies kann verschiedene Gründe haben. Wir empfehlen Ihnen daher, Kontakt mit unserer Anmeldung aufzunehmen. Diese gibt Ihnen gerne Auskunft über die Förderfähigkeit der Veranstaltung.

Weitere Bundesland-spezifische Fördermöglichkeiten finden Sie hier.

Inhouse Durchführung:
Sie möchten diese Veranstaltung firmenintern bei Ihnen vor Ort durchführen? Dann fragen Sie jetzt ein individuelles Inhouse-Training an.

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Ihr Ansprechpartner für die Veranstaltung

Dipl.-Ing. Roland Schöll, MBA