Grundlagen der Oberflächentopographie
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Grundlagen der Oberflächentopographie
Univ.-Prof. Dr.-Ing. Carsten Gachot
TU Wien
Ziel der Weiterbildung
Ziel des Seminars ist es, einen Überblick über alle Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächen zu geben. Damit werden die Teilnehmer:innen in die Lage versetzt, funktionsrelevante Kennwerte auszuwählen und diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben. Anmerkung: Das Seminar erläutert die Neuerungen der neuen Norm ISO 21920 mit ihren drei Teilen.HINWEIS Dieses Seminar ist Bestandteil des Zertifikatslehrgangs „Tribologie Experte (TAE)“ www.tae.de/60160 sowie des Zertifikatslehrgangs „Oberflächen Spezialist (TAE)“ www.tae.de/60163 und kann auch einzeln gebucht werden.
Mittwoch, 13. März 2024
9.00 bis 16.30 Uhr, inkl. Pausen
Einführung in das Thema Rauheit
- GPS-System und Normen
- normative Übersicht
- Ordnungssystem
- Welligkeit und Rauheit
Profile, Filter, Messbedingungen
- Profile und Filter
- Messbedingungen
Kennwerte und Kennkurven: Profil-Kennwerte 2D
- Primär-Profil
- Rauheits-Profil
- Welligkeits-Profil
Toleranzakzeptanzregeln
- Höchstwert (Max)-Regel
- 16%-Regel
- Median-Regel
Oberflächenangabe Zeichnung
- Oberflächenzeichen
- Rauheit und Welligkeit
Oberflächenmesstechnik
- taktile Messverfahren
Univ.-Prof. Dr.-Ing. Carsten Gachot
ONLINE
Die Teilnahme beinhaltet ausführliche Unterlagen.
Preis:
Die Teilnahmegebühr beträgt:
610,00 €
(MwSt.-frei)
pro Teilnehmer
Fördermöglichkeiten:
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Bisher sind diese Mittel für den vorliegenden Kurs nicht bewilligt. Dies kann verschiedene Gründe haben. Wir empfehlen Ihnen daher, Kontakt mit unserer Anmeldung aufzunehmen. Diese gibt Ihnen gerne Auskunft über die Förderfähigkeit der Veranstaltung.
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Inhouse Durchführung:
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